1 - 10 из 42Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Программа расчёта поляризационных свойств слоистых отражающих структур и моделирования спектров эллипсометрии

    Азаров, И. А., 20 дек. 2022, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2022685005, Дата приоритета 13 дек. 2022, № приоритета 2022684414

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

  2. Программа для моделирования спектров пропускания и отражения слоистых структур на толстой подложке с учётом интерференции в слоях

    Егоров, Д. А., Азаров, И. А. & Володин, В. А., 4 окт. 2022, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2022668094, Дата приоритета 28 сент. 2022, № приоритета 2022667509

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

  3. Применение комбинационного рассеяния света для анализа нанокластеров аморфного кремния в плёнках нестехиометрического нитрида кремния, применяющихся в элементах флэш-памяти и в матрицах резистивной памяти

    Володин, В. А., Гриценко, В. А., Камаев, Г. Н., Черкова, С. Г., Азаров, И. А., Новиков, Ю. Н., Гисматулин, А. А. & Просвирин, И. П., 2023, Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам спектроскопии комбинационного рассеяния света. стр. 64

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  4. База данных оптических констант материалов для спектральной эллипсометрии

    Азаров, И. А., 20 янв. 2023, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2023620328, Дата приоритета 23 дек. 2022, № приоритета 2022623906

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации БД

  5. Аналитический и технологический исследовательский центр "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" ФФ НГУ: история, становление и достигнутые результаты

    Гейдт, П. В., Аржанников, А. В., Асеев, А. Л., Шкляев, А. А., Володин, В. А., Азаров, И. А., Зайковский, В. И., Utkin, D., Ларичев, Ю. В., Чепкасов, С. Ю. & Кузнецов, С. А., 17 дек. 2022, в: Сибирский физический журнал. 17, 3, стр. 66-88 23 стр., 9.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Using submicron dielectric coatings to reduce terahertz surface plasmon losses on metals

    Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Knyazev, B. A., Lemzyakov, A. G. & Azarov, I. A., 1 янв. 2018, в: Journal of Physics: Conference Series. 1092, 012041.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  7. The modification of optical properties of the surfaces by the glancing angle deposition of TiO2

    Lemzyakov, A., Konstantin, K., Porosev, V., Azarov, I. & Shklyaev, A., 17 нояб. 2020, Synchrotron and Free Electron Laser Radiation: Generation and Application, SFR 2020. Knyazev, B. & Vinokurov, N. (ред.). American Institute of Physics Inc., 060008. (AIP Conference Proceedings; том 2299).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  8. The Influence of Argon Cluster Ion Bombardment on the Characteristics of AlN Films on Glass-Ceramics and Si Substrates

    Nikolaev, I. V., Geydt, P. V., Korobeishchikov, N. G., Kapishnikov, A. V., Volodin, V. A., Azarov, I. A., Strunin, V. I. & Gerasimov, E. Y., 1 февр. 2022, в: Nanomaterials. 12, 4, 670.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Terahertz planar surface plasmon interferometry

    Gerasimov, V. V., Vanda, V., Lemzyakov, A., Ivanov, A., Azarov, I. & Nikitin, A., 2023, в: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 12776, 7 стр., 127760C.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  10. Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Kuznetsova, L. S., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 20 июл. 2024, в: Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 91, 2, стр. 91-95 5 стр., 6.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 Далее

ID: 12587340