71 - 80 из 144Размер страницы: 10
Сортировать по:: Тип
  1. статья › научная › Прошло рецензирование

  2. On Raman scattering cross section ratio of crystalline and microcrystalline to amorphous silicon

    Zhigunov, D. M., Kamaev, G. N., Kashkarov, P. K. & Volodin, V. A., 9 июл. 2018, в: Applied Physics Letters. 113, 2, 4 стр., 023101.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. On the Formation of IR-Light-Emitting Ge Nanocrystals in Ge: SiO2 Films

    Volodin, V. A., Rui, Z., Krivyakin, G. K., Antonenko, A. K., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 сент. 2018, в: Semiconductors. 52, 9, стр. 1178-1187 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Optical properties of GeO[SiO] and GeO[SiO2] solid alloy layers grown at low temperature

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Zhang, F., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., дек. 2021, в: Optical Materials. 122, 111736.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Optical Properties of Nonstoichiometric Tantalum Oxide TaOx (x < 5/2) According to Spectral-Ellipsometry and Raman-Scattering Data

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Perevalov, T. V., Gerasimova, A. K., Aliev, V. S. & Gritsenko, V. A., 1 июн. 2018, в: Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya). 124, 6, стр. 808-813 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Optical properties of Si nanocrystals formed with laser pulse annealing

    Volodin, V. A., 2017, в: Materials Today: Proceedings. 4, 11, стр. 11402-11405 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Phenomenological model for Raman spectra calculating based on “bond charge” taking into account deformation and electro-optical mechanisms, including Fröhlich scattering

    Sachkov, V. A. & Volodin, V. A., 2023, в: Journal of Raman Spectroscopy. 54, 12, стр. 1465-1472 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Photovoltaic Effect in ITO/Germanosilicate Glass/Si Structures

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Hamoud, G. A., Yushkov, I. D. & Vergnat, M., дек. 2023, в: Russian Microelectronics. 52, Suppl 1, стр. S84-S91 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films

    Gambaryan, M. P., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Physics of the Solid State. 62, 3, стр. 492-498 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Radiation-Induced epitaxial CaSi2 film growth at the molecular-beam epitaxy of CaF2 on Si

    Kacyuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Krupin, A. Y., 1 июн. 2020, в: Materials Letters. 268, 4 стр., 127554.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 10 11 ...15 Далее

ID: 3443008