On Raman scattering cross section ratio of crystalline and microcrystalline to amorphous silicon › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1063/1.5037008
Конечная издательская версия

D. M. Zhigunov
G. N. Kamaev
P. K. Kashkarov
V. A. Volodin

Язык оригинала	английский
Номер статьи	023101
Число страниц	4
Журнал	Applied Physics Letters
Том	113
Номер выпуска	2
DOI	https://doi.org/10.1063/1.5037008
Состояние	Опубликовано - 9 июл. 2018

Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 14727146