31 - 40 из 192Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Silicon oxides and silicon nitrides: Structure, properties and applications in memristors

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Kruchinin, V. N. & Gritsenko, V. A., 1 янв. 2019, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 11022. стр. 33 8 стр. 1102212. (Proceedings of SPIE; том 11022).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  3. Swift heavy ion stimulated formation of the Si quantum dots in Si/SiO 2 multilayer heterostructures

    Kamaev, G. N., Cherkova, S. G., Gismatulin, A. A., Volodin, V. A. & Skuratov, V. A., 1 янв. 2019, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 11022. стр. 71 6 стр. 1102213. (Proceedings of SPIE; том 11022).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  4. Crystallization of submicron amorphous hydrogenated silicon films with different hydrogen concentration by nanosecond ruby laser irradiation

    Krivyakin, G. K., Kamaev, G. N., Ivlev, G. D., Prakopyeu, S. L. & Volodin, V. A., 1 февр. 2019, в: Journal of Laser Applications. 31, 1, 5 стр., 012006.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Crystallization of Amorphous Germanium Films and Multilayer a-Ge/a-Si Structures upon Exposure to Nanosecond Laser Radiation

    Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Ivlev, G. D., Prokopyev, S. L., Gusakova, S. V. & Popov, A. A., 1 мар. 2019, в: Semiconductors. 53, 3, стр. 400-405 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Light-emitting defects formed in GeO/SiO2 heterostructures with assistance of swift heavy ions

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 мар. 2019, в: Journal of Luminescence. 207, стр. 209-212 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Vibrational and Light-Emitting Properties of Si/Si1−xSn x Heterostructures

    Volodin, V. A., Timofeev, V. A., Nikiforov, A. I., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 мар. 2019, в: JETP Letters. 109, 6, стр. 368-371 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. All Nonmetal Resistive Random Access Memory

    Yen, T. J., Gismatulin, A., Volodin, V., Gritsenko, V. & Chin, A., 16 апр. 2019, в: Scientific Reports. 9, 1, стр. 6144 5 стр., 6144.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Silicon Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in SiOx and SiNx: Atomic, Electronic Structure, and Memristor Effects

    Володин, В. А., Гриценко, В. А., Гисматулин, А. А. & Chin, A., 8 июн. 2019, Nanocrystalline Materials. IntechOpen, стр. 1-23 23 стр. (Nanocrystalline Materials).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  10. Memristor effect in GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloys films

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A., Gismatulin, A. A., Chin, A. & Vergnat, M., 10 июн. 2019, в: Applied Physics Letters. 114, 23, 5 стр., 233104.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. New graphene derivative with: N -methylpyrrolidone: Suspension, structural, optical and electrical properties

    Yakimchuk, E., Volodin, V. & Antonova, I., 21 июн. 2019, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 21, 23, стр. 12494-12504 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 ...20 Далее

ID: 3443008