71 - 80 из 82Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Finishing Surface Treatment of Potassium Titanyl Phosphate Single Crystals by Argon Cluster Ions

    Korobeishchikov, N. G., Nikolaev, I. V. & Roenko, M. A., 1 мар. 2019, в: Technical Physics Letters. 45, 3, стр. 274-277 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Features of the Cluster-Ion Treatment of the Surface of a KGd(WO4)2:Nd Single Crystal

    Николаев, И. В. & Коробейщиков, Н. Г., апр. 2024, в: Journal of Surface Investigation. 18, 2, стр. 313-317 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Efficient nanopatterning of Ge surface induced by oblique argon cluster ion beam

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В. & Лапега, А. В., 1 авг. 2024, в: Materials Letters. 368, 4 стр., 136710.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Effect of gas cluster species on crater formation for fused silica

    Николаев, И. В., Стишенко, П. В., Яковлев, В. В. & Коробейщиков, Н. Г., 1 нояб. 2023, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 619, 8 стр., 122590.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Effect of Cluster Ion Bombardment on the Roughly Polished Surface of Single-Crystal Germanium Wafers

    Nikolaev, I. V., Korobeishchikov, N. G. & Lapega, A. V., июн. 2024, в: Moscow University Physics Bulletin. 79, 3, стр. 330-335 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Effect of argon cluster ion beam on fused silica surface morphology

    Korobeishchikov, N. G., Nikolaev, I. V. & Roenko, M. A., 1 янв. 2019, в: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 438, стр. 1-5 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Diagnostics of argon cluster ion beam for materials treatment

    Korobeishchikov, N. G., Nikolaev, I. V. & Roenko, M. A., 27 нояб. 2018, в: Journal of Physics: Conference Series. 1115, 3, 5 стр., 032016.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  8. Comparative nanopatterning of single-component semiconductors using oblique argon cluster ion bombardment

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В., Стишенко, П. В. & Яковлева, М. В., дек. 2025, в: Materials Science in Semiconductor Processing. 200, 11 стр., 110016.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Cluster Ion Treatment of the Surface of Single-Crystal Silicon and Germanium at an Angle of 60°

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г. & Лапега, А. В., июн. 2025, в: Journal of Surface Investigation. 19, 1, стр. 163-166 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Borate nonlinear optical single crystal surface finishing by argon cluster ion sputtering

    Korobeishchikov, N. G., Nikolaev, I. V., Atuchin, V. V., Prosvirin, I. P., Tolstogouzov, A., Pelenovich, V. & Fu, D. J., дек. 2021, в: Surfaces and Interfaces. 27, 101520.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 Далее

ID: 12592622