1 - 8 из 8Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2024

  2. Kinetic study of GeOx amorphous film disproportionation into a-Ge nanoclusters / GeO2 system using Raman and infrared spectroscopy

    帆张, Володин, В. А., Астанкова, К. Н., Shvets, P. V., Goikhman, A. Y. & Vergnat, M., 1 мая 2024, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 631, 8 стр., 122929.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. 2023

  4. Определение энергии активации реакции диспропорционирования аморфной пленки GeOx на кварцевой подложке с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния света

    Чжан, Ф., Vergnat, M. & Володин, В. А., 2023, в: Журнал технической физики. 8, стр. 1209-1215 7 стр., 17.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Проявление эффекта локализации фононов в спектрах комбинационного рассеяния света аморфных нанокластеров германия в матрице GeOx

    帆张 & Володин, В. А., 2023, сборник тезисов:Комбинационное Рассеяние - 95 лет исследований. стр. 47

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  6. 2022

  7. Formation of germanium nanocrystals and amorphous nanoclusters in GeSiOx films using electron beam annealing

    Zhang, F., Volodin, V. A., Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O. & Vergnat, M., мар. 2022, в: Vacuum. 197, 110796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Determination of the infrared absorption cross-section of the stretching vibrations of Ge–O bonds in GeOx films

    Zhang, F., Volodin, V. A., Astankova, K. N., Kamaev, G. N., Azarov, I. A., Prosvirin, I. P. & Vergnat, M., янв. 2022, в: Results in Chemistry. 4, 100461.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. 2021

  10. Optical properties of GeO[SiO] and GeO[SiO2] solid alloy layers grown at low temperature

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Zhang, F., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., дек. 2021, в: Optical Materials. 122, 111736.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. 2020

  12. Resistive switching in non-stoichiometric germanosilicate glass films containing ge nanoclusters

    Volodin, V. A., Geydt, P., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Krivyakin, G. K., Prosvirin, I. P., Azarov, I. A., Fan, Z. & Vergnat, M., дек. 2020, в: Electronics (Switzerland). 9, 12, стр. 1-17 17 стр., 2103.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 3509183