141 - 160 из 205Размер страницы: 20
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2018

  2. The Evolution of the Conductivity and Cathodoluminescence of the Films of Hafnium Oxide in the Case of a Change in the Concentration of Oxygen Vacancies

    Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Kruchinin, V. N., Ivanova, E. V., Zamoryanskaya, M. V. & Lebedev, M. S., 1 окт. 2018, в: Physics of the Solid State. 60, 10, стр. 2050-2057 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Aluminum-induced crystallization of silicon suboxide thin films

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Khmel, S. Y., Volodin, V. A., Vdovin, V. I. & Gutakovskii, A. K., 1 сент. 2018, в: Applied Physics A: Materials Science and Processing. 124, 9, 4 стр., 646.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. On the Formation of IR-Light-Emitting Ge Nanocrystals in Ge: SiO2 Films

    Volodin, V. A., Rui, Z., Krivyakin, G. K., Antonenko, A. K., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 сент. 2018, в: Semiconductors. 52, 9, стр. 1178-1187 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Nanoscale potential fluctuations in nonstoichiometrics tantalum oxide

    Gritsenko, V. A., Volodin, V. A., Perevalov, T. V., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K., Aliev, V. S. & Prosvirin, I. P., 15 авг. 2018, в: Nanotechnology. 29, 42, 9 стр., 425202.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Nanostructuring few-layer graphene films with swift heavy ions for electronic application: Tuning of electronic and transport properties

    Nebogatikova, N. A., Antonova, I. V., Erohin, S. V., Kvashnin, D. G., Olejniczak, A., Volodin, V. A., Skuratov, A. V., Krasheninnikov, A. V., Sorokin, P. B. & Chernozatonskii, L. A., 14 авг. 2018, в: Nanoscale. 10, 30, стр. 14499-14509 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Atomic and Electronic Structures of Metal-Rich Noncentrosymmetric ZrOx

    Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K. & Prosvirin, I. P., 1 авг. 2018, в: JETP Letters. 108, 4, стр. 226-230 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Raman scattering in boron doped nanocrystalline diamond films: Manifestation of Fano interference and phonon confinement effect

    Volodin, V. A., Mortet, V., Taylor, A., Remes, Z., Stuchliková, T. H. & Stuchlik, J., 1 авг. 2018, в: Solid State Communications. 276, стр. 33-36 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. On Raman scattering cross section ratio of crystalline and microcrystalline to amorphous silicon

    Zhigunov, D. M., Kamaev, G. N., Kashkarov, P. K. & Volodin, V. A., 9 июл. 2018, в: Applied Physics Letters. 113, 2, 4 стр., 023101.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Errors of Estimating the Parameters of Local Magnetic Anomalies Based on Magnetic Survey Performed at Different Altitudes by an Unmanned Aerial Vehicle

    Kosykh, V. P., Gromilin, G. I., Firsov, A. P. & Savluk, A. V., 1 июл. 2018, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 54, 4, стр. 328-333 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Atomic and Electronic Structures of Intrinsic Defects in Ta2O5: Ab Initio Simulation

    Perevalov, T. V., Islamov, D. R. & Chernykh, I. G., 1 июн. 2018, в: JETP Letters. 107, 12, стр. 761-765 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Effect of annealing in oxidizing atmosphere on optical and structural properties of silicon suboxide thin films obtained by gas-jet electron beam plasma chemical vapor deposition method

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Volodin, V. A., Sharafutdinov, M. R. & Khmel, S. Y., 1 июн. 2018, в: Vacuum. 152, стр. 319-326 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. Forbidden Resonant Raman Scattering in GaAs/AlAs Superlattices: Experiment and Calculations

    Volodin, V. A., Sachkov, V. A. & Sinyukov, M. P., 1 июн. 2018, в: Semiconductors. 52, 6, стр. 717-722 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  14. Optical Properties of Nonstoichiometric Tantalum Oxide TaOx (x < 5/2) According to Spectral-Ellipsometry and Raman-Scattering Data

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Perevalov, T. V., Gerasimova, A. K., Aliev, V. S. & Gritsenko, V. A., 1 июн. 2018, в: Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya). 124, 6, стр. 808-813 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. Electronic structure of stoichiometric and oxygen-deficient ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2

    Perevalov, T. V., Islamov, D. R., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 11 мая 2018, в: Nanotechnology. 29, 19, 8 стр., 194001.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  16. Estimation of the Scanning Speed of Random Texture by a Multirow Focal Plane Array

    Gromilin, G. I., Kosykh, V. P., Drazhnikov, B. N., Kozlov, K. V. & Vasil’ev, V. N., 1 мая 2018, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 54, 3, стр. 250-255 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  17. Local Oscillations of Silicon–Silicon Bonds in Silicon Nitride

    Volodin, V. A., Gritsenko, V. A. & Chin, A., 1 мая 2018, в: Technical Physics Letters. 44, 5, стр. 424-427 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  18. New Method of Porous Ge Layer Fabrication: Structure and Optical Properties

    Gorokhov, E. B., Astankova, K. N., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 мая 2018, в: Semiconductors. 52, 5, стр. 628-631 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  19. Photoemission properties of flat and rough GaAs surfaces with cesium and oxygen layers

    Zhuravlev, A. G., Kazantsev, D. M., Khoroshilov, V. S., Kozhukhov, A. S. & Alperovich, V. L., 10 апр. 2018, в: Journal of Physics: Conference Series. 993, 1, 6 стр., 012007.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  20. Heterostructures with diffused interfaces: Luminescent technique for ascertainment of band alignment type

    Abramkin, D. S., Gutakovskii, A. K. & Shamirzaev, T. S., 21 мар. 2018, в: Journal of Applied Physics. 123, 11, 11 стр., 115701.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  21. Influence of a Low-Temperature GaAs Dislocation Filter on the Perfection of GaAs/Si Layers

    Abramkin, D. S., Petrushkov, M. O., Emel’yanov, E. A., Putyato, M. A., Semyagin, B. R., Vasev, A. V., Esin, M. Y., Loshkarev, I. D., Gutakovskii, A. K., Preobrazhenskii, V. V. & Shamirzaev, T. S., 1 мар. 2018, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 54, 2, стр. 181-186 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 10 11 Далее

ID: 3087404