151 - 160 из 266Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Redistribution of Erbium and Oxygen Recoil Atoms and the Structure of Silicon Thin Surface Layers Formed by High-Dose Argon Implantation through Er and SiO2 Surface Films

    Feklistov, K. V., Cherkov, A. G., Popov, V. P. & Fedina, L. I., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 13, стр. 1696-1703 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Regimes of enhanced electromagnetic emission in beam-plasma interactions

    Timofeev, I. V., Annenkov, V. V. & Arzhannikov, A. V., 1 нояб. 2015, в: Physics of Plasmas. 22, 11, 113109.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Remarkable enhancement of photoluminescence and photoresponse due to photonic crystal structures based on GeSiSn/Si multiple quantum wells

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Skvortsov, I. V., Gayduk, A. E., Bloshkin, A. A., Kirienko, V. V., Utkin, D. E., Kolyada, D. V., Firsov, D. D. & Komkov, O. S., апр. 2023, в: Materials Today Physics. 33, 9 стр., 101052.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Resistive switching in non-stoichiometric germanosilicate glass films containing ge nanoclusters

    Volodin, V. A., Geydt, P., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Krivyakin, G. K., Prosvirin, I. P., Azarov, I. A., Fan, Z. & Vergnat, M., дек. 2020, в: Electronics (Switzerland). 9, 12, стр. 1-17 17 стр., 2103.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

    Kumar, N., Surovtsev, N. V., Ishchenko, D. V., Yunin, P. A., Milekhin, I. A., Tereshchenko, O. E. & Milekhin, A. G., 26 нояб. 2024, в: Journal of Raman Spectroscopy. 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

    Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Resonances in Ge disk lattices on Si at telecommunication wavelengths

    Шкляев, А. А., Utkin, D., Зиновьев, В., Рудин, С., Зиновьева, А. Ф., Ненашев, А. В., Ташкеев, Н. А. & Вебер, С., 2025, в: Physical Review A. 112, 063528.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Resonant Raman scattering on graphene: SERS and gap-mode TERS

    Kurus, N. N., Kalinin, V., Nebogatikova, N. A., Milekhin, I. A., Antonova, I. V., Rodyakina, E. E., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 23 янв. 2024, в: RSC Advances. 14, 6, стр. 3667-3674 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Revealing the underlying mechanisms behind TE extraordinary THz transmission

    Freer, S., Camacho, M., Kuznetsov, S. A., Boix, R. R., Beruete, M. & Navarro-Cía, M., 1 апр. 2020, в: Photonics Research. 8, 4, стр. 430-439 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Room-temperature nitrophenol reduction over ag–ceo2 catalysts: The role of catalyst preparation method

    Chernykh, M., Mikheeva, N., Zaikovskii, V., Salaev, M., Liotta, L. F. & Mamontov, G., 21 мая 2020, в: Catalysts. 10, 5, 12 стр., 580.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...12 13 14 15 16 17 18 19 ...27 Далее

ID: 10000229