DOI

  • L. S. Basalaeva
  • Yu V. Nastaushev
  • F. N. Dultsev
  • N. V. Kryzhanovskaya
  • E. I. Moiseev
Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)205-209
Число страниц5
ЖурналSemiconductors
Том53
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 февр. 2019

    Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 20157217