Ge nanocrystals formed by furnace annealing of Ge(x)[SiO2](1-x) films: Structure and optical properties › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1088/2053-1591/aa7c38
Конечная издательская версия

V. A. Volodin
A. G. Cherkov
A. Kh Antonenko
M. Stoffel
H. Rinnert
M. Vergnat

Язык оригинала	английский
Номер статьи	075010
Число страниц	9
Журнал	Materials Research Express
Том	4
Номер выпуска	7
DOI	https://doi.org/10.1088/2053-1591/aa7c38
Состояние	Опубликовано - 1 июл. 2017

Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 9965708