DOI

Переведенное названиеЭллипсометрические in situ методы контроля температуры в технологии выращивания слоёв МЛЭ КРТ
Язык оригиналаанглийский
Номер статьи5
Страницы (с-по)476-484
Число страниц9
ЖурналOptoelectronics, Instrumentation and Data Processing
Том57
Номер выпуска5
DOI
СостояниеОпубликовано - сент. 2021

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.02 ЭЛЕКТРОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

ID: 35771128