Consideration of the Sample Eccentricity in the Measurement of Unit Cell Parameters of Small Single Crystals in Bond’s Scheme Implemented in Modern Diffractometers

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	2466-2477
Число страниц	12
Журнал	Journal of Structural Chemistry
Том	65
Номер выпуска	12
DOI	https://doi.org/10.1134/S0022476624120102
Состояние	Опубликовано - 27 дек. 2024

2D detector, Bond’s scheme, accuracy, eccentricity, reference, single crystal X-ray diffraction, small crystals, unit cell parameters

ID: 61415761