DOI

  • V. V. Ratnikov
  • M. P. Sheglov
  • B. Ya Ber
  • D. Yu Kazantsev
  • I. V. Osinnykh
  • T. V. Malin
  • K. S. Zhuravlev
Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)221-225
Число страниц5
ЖурналSemiconductors
Том52
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 февр. 2018

    Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 10426937