DOI

Переведенное названиеX-RAY CERTIFICATION OF SI, GE, LAB6, AND INSB SINGLE CRYSTALS
Язык оригиналарусский
Номер статьи148915
ЖурналЖурнал структурной химии
Том66
Номер выпуска7
DOI
СостояниеОпубликовано - 2025

    Области исследований

  • РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ДВУМЕРНЫЙ ДЕТЕКТОР, МАЛЫЕ КРИСТАЛЛЫ, ПАРАМЕТРЫ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ, ТОЧНОСТЬ, ЭТАЛОН, ЭКСЦЕНТРИСИТЕТ

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.04 ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ

ID: 74110810