Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb

Standard

Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb. / Серебренникова, Полина Сергеевна ; Громилов, Сергей Александрович.

в: Журнал структурной химии, Том 66, № 7, 148915, 2025.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

BibTeX

@article{4afe0514cf3d463795632180244a1bc6,

title = "Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb",

abstract = "Проведена рентгенографическая аттестация серии новых рентгенографических эталонов (Si, Ge, LaB6, InSb), представляющих собой высокочистые совершенные монокристаллы с линейными размерами 20-50 мкм. Параметры элементарной ячейки изученных монокристаллов измерены с использованием внешнего эталона - монокристалла Si ( a = 5.431042 {\AA}), ранее исследованного на однокристальном спектрометре в схеме Бонда. Показано, что при корректном учете эксцентриситета образцов относительная точность полученных параметров элементарных кубических ячеек Δ а / а не хуже 5×10-5. С помощью эталонов Ge и InSb проведено уточнение параметра кубической ячейки монокристалла Y2O3.",

keywords = "РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ДВУМЕРНЫЙ ДЕТЕКТОР, МАЛЫЕ КРИСТАЛЛЫ, ПАРАМЕТРЫ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ, ТОЧНОСТЬ, ЭТАЛОН, ЭКСЦЕНТРИСИТЕТ, X-RAY DIFFRACTOMETRY, 2D DETECTOR, SMALL CRYSTALS, UNIT CELL PARAMETERS, PRECISION, STANDARD REFERENCE MATERIAL, ECCENTRICITY",

author = "Серебренникова, {Полина Сергеевна} and Громилов, {Сергей Александрович}",

note = "Серебренникова, П. С. Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb / П. С. Серебренникова, С. А. Громилов // Журнал структурной химии. – 2025. – Т. 66, № 7. – С. 148915. – DOI 10.26902/JSC_id148915. – EDN KXNULI. Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского научного фонда и Правительства Новосибирской области (проект № 24-22-20017, https://rscf.ru/project/24-22-20017/).",

year = "2025",

doi = "10.26902/JSC_id148915",

language = "русский",

volume = "66",

journal = "Журнал структурной химии",

issn = "0136-7463",

number = "7",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb

AU - Серебренникова, Полина Сергеевна

AU - Громилов, Сергей Александрович

N1 - Серебренникова, П. С. Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb / П. С. Серебренникова, С. А. Громилов // Журнал структурной химии. – 2025. – Т. 66, № 7. – С. 148915. – DOI 10.26902/JSC_id148915. – EDN KXNULI. Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского научного фонда и Правительства Новосибирской области (проект № 24-22-20017, https://rscf.ru/project/24-22-20017/).

PY - 2025

Y1 - 2025

N2 - Проведена рентгенографическая аттестация серии новых рентгенографических эталонов (Si, Ge, LaB6, InSb), представляющих собой высокочистые совершенные монокристаллы с линейными размерами 20-50 мкм. Параметры элементарной ячейки изученных монокристаллов измерены с использованием внешнего эталона - монокристалла Si ( a = 5.431042 Å), ранее исследованного на однокристальном спектрометре в схеме Бонда. Показано, что при корректном учете эксцентриситета образцов относительная точность полученных параметров элементарных кубических ячеек Δ а / а не хуже 5×10-5. С помощью эталонов Ge и InSb проведено уточнение параметра кубической ячейки монокристалла Y2O3.

AB - Проведена рентгенографическая аттестация серии новых рентгенографических эталонов (Si, Ge, LaB6, InSb), представляющих собой высокочистые совершенные монокристаллы с линейными размерами 20-50 мкм. Параметры элементарной ячейки изученных монокристаллов измерены с использованием внешнего эталона - монокристалла Si ( a = 5.431042 Å), ранее исследованного на однокристальном спектрометре в схеме Бонда. Показано, что при корректном учете эксцентриситета образцов относительная точность полученных параметров элементарных кубических ячеек Δ а / а не хуже 5×10-5. С помощью эталонов Ge и InSb проведено уточнение параметра кубической ячейки монокристалла Y2O3.

KW - РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ

KW - ДВУМЕРНЫЙ ДЕТЕКТОР

KW - МАЛЫЕ КРИСТАЛЛЫ

KW - ПАРАМЕТРЫ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ

KW - ТОЧНОСТЬ

KW - ЭТАЛОН

KW - ЭКСЦЕНТРИСИТЕТ

KW - X-RAY DIFFRACTOMETRY

KW - 2D DETECTOR

KW - SMALL CRYSTALS

KW - UNIT CELL PARAMETERS

KW - PRECISION

KW - STANDARD REFERENCE MATERIAL

KW - ECCENTRICITY

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=82649100

UR - https://jsc.niic.nsc.ru/article/148915/

U2 - 10.26902/JSC_id148915

DO - 10.26902/JSC_id148915

M3 - статья

VL - 66

JO - Журнал структурной химии

JF - Журнал структурной химии

SN - 0136-7463

IS - 7

M1 - 148915

ER -

ID: 74110810