Standard

Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения. / Володин, Владимир Алексеевич (автор); Климов, Богдан Алексеевич (автор); Попов, Дмитрий Константинович (автор).

Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Номер патента: 2026617754. мар. 20, 2026.

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

Harvard

Володин, ВА, Климов, БА & Попов, ДК мар.. 20 2026, Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения, Номер патента 2026617754. <https://new.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2026617754&TypeFile=html>

APA

Володин, В. А., Климов, Б. А., & Попов, Д. К. (2026). Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения. (Номер патента 2026617754). Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. https://new.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2026617754&TypeFile=html

Vancouver

Володин ВА, Климов БА, Попов ДК, Изобретатели. Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения. 2026617754. 2026 март 20.

Author

Володин, Владимир Алексеевич (автор) ; Климов, Богдан Алексеевич (автор) ; Попов, Дмитрий Константинович (автор). / Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения. Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Номер патента: 2026617754. мар. 20, 2026.

BibTeX

@misc{6c95f82056684b50a46e6f42ac7fb0b0,
title = "Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения",
abstract = "Программа предназначена для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник. Вычислительная схема базируется на физической модели зависимости глубины области пространственного заряда в полупроводнике для случая обеднения. Программа позволяет вычислять полную ёмкость структур металл-диэлектрик-полупроводник. Программа может быть использована для обучения студентов и для компьютерной демонстрации работы варикапа. Программа выполнена в рамках государственного задания Минобрнауки РФ FSUS-2024-0020.",
author = "Володин, {Владимир Алексеевич} and Климов, {Богдан Алексеевич} and Попов, {Дмитрий Константинович}",
year = "2026",
month = mar,
day = "20",
language = "русский",
publisher = "Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности",
address = "Российская Федерация",
type = "Patent",
note = "2026617754",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Программа для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник в случае обеднения

AU - Володин, Владимир Алексеевич

AU - Климов, Богдан Алексеевич

AU - Попов, Дмитрий Константинович

PY - 2026/3/20

Y1 - 2026/3/20

N2 - Программа предназначена для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник. Вычислительная схема базируется на физической модели зависимости глубины области пространственного заряда в полупроводнике для случая обеднения. Программа позволяет вычислять полную ёмкость структур металл-диэлектрик-полупроводник. Программа может быть использована для обучения студентов и для компьютерной демонстрации работы варикапа. Программа выполнена в рамках государственного задания Минобрнауки РФ FSUS-2024-0020.

AB - Программа предназначена для моделирования вольтфарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник. Вычислительная схема базируется на физической модели зависимости глубины области пространственного заряда в полупроводнике для случая обеднения. Программа позволяет вычислять полную ёмкость структур металл-диэлектрик-полупроводник. Программа может быть использована для обучения студентов и для компьютерной демонстрации работы варикапа. Программа выполнена в рамках государственного задания Минобрнауки РФ FSUS-2024-0020.

M3 - свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

M1 - 2026617754

Y2 - 2026/03/17

PB - Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности

ER -

ID: 76258781