1. 2021
  2. In situ reflection electron microscopy for investigation of surface processes on Bi2Se3(0001)

    Ponomarev, S. A., Rogilo, D. I., Kurus, N. N., Basalaeva, L. S., Kokh, K. A., Milekhin, A. G., Sheglov, D. V. & Latyshev, A. V., 13 сент. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1984, 1, 012016.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

  3. Broadband Antireflection Coatings Composed of Subwavelength-Sized SiGe Particles

    Utkin, D. E., Tsarev, A. V., Utkin, E. N., Latyshev, A. V. & Shklyaev, A. A., 1 сент. 2021, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 57, 5, стр. 494-504 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  4. Scientific Heritage of S. V. Bogdanov

    Kidyarov, B. I., Kolosovsky, E. A., Tsarev, A. V., Neizvestny, I. G., Aseev, A. L., Latyshev, A. V., Chaplik, A. V. & Dvurechenskii, A. V., 1 сент. 2021, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 57, 5, стр. 539-543 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Low-Frequency Microwave Response of a Quantum Point Contact

    Tkachenko, V. A., Yaroshevich, A. S., Kvon, Z. D., Tkachenko, O. A., Rodyakina, E. E. & Latyshev, A. V., июл. 2021, в: JETP Letters. 114, 2, стр. 110-115 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. Thermal Hysteresis in the Resistance of In2Se3Film on Si(111) Surface

    Ponomarev, S., Rogilo, D., Mironov, A., Sheglov, D. & Latyshev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 50-53 4 стр. 9507592. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  7. Biosensors Based on SOI Nanowire Transistors for Biomedicine and Virusology

    Naumova, O. V., Generalov, V. M., Zaitseva, E. G., Latyshev, A. V., Aseev, A. L., Pyankov, S. A., Kolosova, I. V., Ananko, G. G., Agafonov, A. P., Gavrilova, E. V., Maksyutov, R. A. & Safatov, A. S., мая 2021, в: Russian Microelectronics. 50, 3, стр. 137-145 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Photon-Stimulated Transport in a Quantum Point Contact (Brief Review)

    Tkachenko, V. A., Kvon, Z. D., Tkachenko, O. A., Yaroshevich, A. S., Rodyakina, E. E., Baksheev, D. G. & Latyshev, A. V., мар. 2021, в: JETP Letters. 113, 5, стр. 331-344 14 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхобзорная статьяРецензирование

  9. Plasmon Enhancement of Emission and Absorption by CdSe-based Nanocrystals

    Milekhin, A., Rahaman, M., Milekhin, I., Basalaeva, L., Duda, T., Rodyakina, E., Anikin, K., Vasiliev, R., Kuznetsov, S. A., Latyshev, A. & Zahn, D., 2021, 2021 46th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2021. IEEE Computer Society, (International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz; том 2021-August).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  10. 2020
  11. Thermal roughening of GaAs surface by unwinding dislocation-induced spiral atomic steps during sublimation

    Kazantsev, D. M., Akhundov, I. O., Rudaya, N. S., Kozhukhov, A. S., Alperovich, V. L. & Latyshev, A. V., 1 нояб. 2020, в: Applied Surface Science. 529, 6 стр., 147090.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  12. Resonant tip-enhanced Raman scattering by CdSe nanocrystals on plasmonic substrates

    Milekhin, I. A., Rahaman, M., Anikin, K. V., Rodyakina, E. E., Duda, T. A., Saidzhonov, B. M., Vasiliev, R. B., Dzhagan, V. M., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., нояб. 2020, в: Nanoscale Advances. 2, 11, стр. 5441-5449 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

ID: 3436806