1. Resonant Raman scattering on graphene: SERS and gap-mode TERS

    Kurus, N. N., Kalinin, V., Nebogatikova, N. A., Milekhin, I. A., Antonova, I. V., Rodyakina, E. E., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 23 янв. 2024, в: RSC Advances. 14, 6, стр. 3667-3674 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Resonant plasmon enhancement of light emission from CdSe/CdS nanoplatelets on Au nanodisk arrays

    Milekhin, I. A., Anikin, K. V., Rahaman, M., Rodyakina, E. E., Duda, T. A., Saidzhonov, B. M., Vasiliev, R. B., Dzhagan, V. M., Milekhin, A. G., Batsanov, S. A., Gutakovskii, A. K., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 28 окт. 2020, в: Journal of Chemical Physics. 153, 16, 9 стр., 164708.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

    Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Real-time observation of self-interstitial reactions on an atomically smooth silicon surface

    Kosolobov, S., Nazarikov, G., Sitnikov, S., Pshenichnyuk, I., Fedina, L. & Latyshev, A., 1 сент. 2019, в: Surface Science. 687, стр. 25-33 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Raman Scattering Spectroscopy and Photoluminescence of GaAs Nanowires

    Kalachev, I. V., Milekhin, I. A., Emel’yanov, E. A., Preobrazhenskii, V. V., Tumashev, V. S., Milekhin, A. G. & Latyshev, A. V., дек. 2023, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 59, 6, стр. 659-666 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Preface

    Latyshev, A. V., Dvurechenskii, A. V. & Aseev, A. L., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications: Growth, Characterization, Properties and Applications. Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. xxiii-xxiv (Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › предисловие, научный комментарий, послесловие › научная › Рецензирование

  7. Preface

    Latyshev, A. V., Dvurechenskii, A. V. & Aseev, A. L., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications. Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. xxiii-xxiv (Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › предисловие, научный комментарий, послесловие › научная › Рецензирование

  8. Polarization-dependent TERS imaging of a single AlN nanorod

    Milekhin, I. A., Milekhin, A. G., Tsarev, A. V., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 30 дек. 2025, в: Applied Surface Science. 714, 7 стр., 164403.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Plasmon Enhancement of Emission and Absorption by CdSe-based Nanocrystals

    Milekhin, A., Rahaman, M., Milekhin, I., Basalaeva, L., Duda, T., Rodyakina, E., Anikin, K., Vasiliev, R., Kuznetsov, S. A., Latyshev, A. & Zahn, D., 2021, 2021 46th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2021. IEEE Computer Society, (International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz; том 2021-August).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  10. Plasmon-Enhanced Vibrational Spectroscopy of Semiconductors Nanocrystals

    Milekhin, A. G., Duda, T. A., Rodyakina, E. E., Anikin, K. V., Kuznetsov, S. A., Milekhin, I. A., Zahn, D. R. T. & Latyshev, A. V., сент. 2020, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 56, 5, стр. 503-509 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 3436806