41 - 50 из 56Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2020

  2. Morphology, Structure, and Optical Properties of SnO (x) Films

    Nikiforov, A. I., Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Azarov, I. A., Loshkarev, I. D., Korol’kov, I. V., Gavrilova, T. A. & Esin, M. Y., 1 июн. 2020, в: Russian Physics Journal. 63, 2, стр. 276-281 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Formation of SnO and SnO2 phases during the annealing of SnO(x) films obtained by molecular beam epitaxy

    Nikiforov, A., Timofeev, V., Mashanov, V., Azarov, I., Loshkarev, I., Volodin, V., Gulyaev, D., Chetyrin, I. & Korolkov, I., 15 мая 2020, в: Applied Surface Science. 512, 7 стр., 145735.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Splitting a terahertz surface plasmon polariton beam using Kapton film

    Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Lemzyakov, A. G., Azarov, I. A., Milekhin, I. A., Knyazev, B. A., Bezus, E. A., Kadomina, E. A. & Doskolovich, L. L., 1 мая 2020, в: Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics. 37, 5, стр. 1461-1467 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Over-the-Horizon Terahertz Surface Plasmon Locator

    Nikitin, A. K., Gerasimov, V. V., Lemzyakov, A. G., Knyazev, B. A. & Azarov, I. A., 1 февр. 2020, в: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves. 41, 2, стр. 194-201 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Effect of annealing temperature on the morphology, structure, and optical properties of nanostructured SnO(x) films

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Azarov, I. A., Loshkarev, I. D., Korolkov, I. V., Gavrilova, T. A., Yesin, M. Y. & Chetyrin, I. A., 6 янв. 2020, в: Materials Research Express. 7, 1, 9 стр., 015027.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. 2019

  8. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Propagation of terahertz surface plasmon polaritons around a convex metal-dielectric interface

    Knyazev, B. A., Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Azarov, I. A. & Choporova, Y. Y., 1 июн. 2019, в: Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics. 36, 6, стр. 1684-1689 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв. 2019, в: Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Ellipsometric Method of Substrate Temperature Measurement in Low-Temperature Processes of Epitaxy of InSb Layers

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Rykhlitskii, S. V. & Toropov, A. I., 1 янв. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 1, стр. 8-15 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. 2018

  13. Atomic Force Microscopy Local Oxidation of GeO Thin Films

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 16, стр. 2081-2084 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 Далее

ID: 12587340