1. 2020
  2. Effect of annealing temperature on the morphology, structure, and optical properties of nanostructured SnO(x) films

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Azarov, I. A., Loshkarev, I. D., Korolkov, I. V., Gavrilova, T. A., Yesin, M. Y. & Chetyrin, I. A., 6 янв. 2020, в: Materials Research Express. 7, 1, 9 стр., 015027.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. 2019
  4. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Propagation of terahertz surface plasmon polaritons around a convex metal-dielectric interface

    Knyazev, B. A., Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Azarov, I. A. & Choporova, Y. Y., 1 июн. 2019, в: Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics. 36, 6, стр. 1684-1689 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв. 2019, в: Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  7. Ellipsometric Method of Substrate Temperature Measurement in Low-Temperature Processes of Epitaxy of InSb Layers

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Rykhlitskii, S. V. & Toropov, A. I., 1 янв. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 1, стр. 8-15 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. 2018
  9. Atomic Force Microscopy Local Oxidation of GeO Thin Films

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 16, стр. 2081-2084 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. Polyimide Splitters for Terahertz Surface Plasmons

    Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Lemzyakov, A. G., Azarov, I. A., Milekhin, I. A., Knyazev, B. A., Bezus, E. A., Kadomina, E. A. & Doskolovich, L. L., 25 окт. 2018, 2018 43rd International Conference on Infrared Millimeter and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2018. IEEE Computer Society, Том 2018-September. 8510102

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  11. Reducing Losses of Terahertz Surface Plasmons by Submicron Dielectric Coatings

    Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Knyazev, B. A., Lemzyakov, A. G. & Azarov, I. A., 25 окт. 2018, 2018 43rd International Conference on Infrared Millimeter and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2018. IEEE Computer Society, Том 2018-September. 8510001

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  12. New Method of Porous Ge Layer Fabrication: Structure and Optical Properties

    Gorokhov, E. B., Astankova, K. N., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 мая 2018, в: Semiconductors. 52, 5, стр. 628-631 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  13. Local Anodic Oxidation of Thin GeO Films and Formation of Nanostructures Based on Them

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Azarov, I. A., Gorokhov, E. B., Sheglov, D. V. & Latyshev, A. V., 1 апр. 2018, в: Physics of the Solid State. 60, 4, стр. 700-704 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

ID: 12587340