41 - 50 из 53Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Formation of SnO and SnO2 phases during the annealing of SnO(x) films obtained by molecular beam epitaxy

    Nikiforov, A., Timofeev, V., Mashanov, V., Azarov, I., Loshkarev, I., Volodin, V., Gulyaev, D., Chetyrin, I. & Korolkov, I., 15 мая 2020, в: Applied Surface Science. 512, 7 стр., 145735.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. First Generation of Vortex Plasmons via Vortex-Beam End-Fire Coupling

    Knyazev, B. A., Gerasimov, V. V., Kameshkov, O. E., Osintseva, N. D., Pavelyev, V. S., Tukmakov, K. N., Lemzyakov, A. G. & Azarov, I. A., 2021, 2021 46th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2021. IEEE Computer Society, 2 стр. (International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz; том 2021-August).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  3. Evaluation of the Efficiency of Generation of Terahertz Surface Plasmon Polaritons by the End-Fire Coupling Technique

    Gerasimov, V. V., Nikitin, A. K., Lemzyakov, A. G. & Azarov, I. A., авг. 2023, в: Photonics. 10, 8, 917.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Ellipsometric thermometry in molecular beam epitaxy of mercury cadmium telluride

    Marin, D. V., Shvets, V. A., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., авг. 2021, в: Infrared Physics and Technology. 116, 103793.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Ellipsometric Method of Substrate Temperature Measurement in Low-Temperature Processes of Epitaxy of InSb Layers

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Rykhlitskii, S. V. & Toropov, A. I., 1 янв. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 1, стр. 8-15 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв. 2019, в: Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Ellipsometric In Situ Methods of Temperature Control in the Technology of Growing MBE MCT Layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., сент. 2021, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 57, 5, стр. 476-484 9 стр., 5.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Effect of annealing temperature on the morphology, structure, and optical properties of nanostructured SnO(x) films

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Azarov, I. A., Loshkarev, I. D., Korolkov, I. V., Gavrilova, T. A., Yesin, M. Y. & Chetyrin, I. A., 6 янв. 2020, в: Materials Research Express. 7, 1, 9 стр., 015027.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Dispersion of Attenuation of Surface Plasmon Polaritons on Metal in the Terahertz Range

    Gerasimov, V. V., Nikitin, A., Vanda, V. S., Lemzyakov, A. G. & Azarov, I. A., 8 мая 2025, в: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves. 46, 5, 17 стр., 32.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Determining the Depth of Penetration of the THz Surface Plasmon Polariton Field into Air by the Shielding Technique

    Kukotenko, V. D., Gerasimov, V. V., Vanda, V. S., Lemzyakov, A. G., Azarov, I. A. & Nikitin, A., дек. 2025, в: Plasmonics. 20, 12, стр. 11461-11469 9 стр., 1.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 Далее

ID: 12587340