In situ Ellipsometric Control of Growth Processes of ZnTe and CdTe Buffer Layers in Technology of Molecular Beam Epitaxy of Mercury Cadmium Telluride

Shvets, V. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., янв. 2024, в: Semiconductors. 58, 1, стр. 67-72 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

In situ spectroscopic ellipsometry for temperature control in molecular beam epitaxy of HgCdTe

Shvets, V. A., Marin, D. V., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 1 дек. 2022, в: Journal of Crystal Growth. 599, 126898.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Interface Studies in HgTe/HgCdTe Quantum Wells

Mikhailov, N., Shvets, V., Ikusov, D., Uzhakov, I., Dvoretsky, S., Mynbaev, K., Dluzewski, P., Morgiel, J., Swiatek, Z., Bonchyk, O. & Izhnin, I., 1 мая 2020, в: Physica Status Solidi (B) Basic Research. 257, 5, 5 стр., 1900598.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Investigation of the Temperature Dependence of the Spectra of Optical Constants of Hg_1 –xCd_хTe Films Grown Using Molecular Beam Epitaxy

Shvets, V. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., янв. 2021, в: Optics and Spectroscopy. 129, 1, стр. 29-36 8 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

MBE-grown MCT hetero- A nd nanostructures for IR and THz detectors

Dvoretsky, S. A., Mikhailov, N. N., Remesnik, V. G., Sidorov, Y. G., Shvets, V. A., Ikusov, D. G., Varavin, V. S., Yakushev, M. V., Gumenjuk-Sichevska, J. V., Golenkov, A. G., Lysiuk, I. O., Tsybrii, Z. F., Shevchik-Shekera, A. V., Sizov, F. F., Latyshev, A. V. & Aseev, A. L., 1 сент. 2019, в: Opto-electronics Review. 27, 3, стр. 282-290 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Parametric Model of the Optical Constant Spectra of Hg_1 –xCd_xTe and Determination of the Compound Composition

Shvets, V. A., Marin, D. V., Remesnik, V. G., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., дек. 2020, в: Optics and Spectroscopy. 128, 12, стр. 1948-1953 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Polarization Pyrometry of Layered Semiconductor Structures under Conditions of Low-Temperature Technological Processes

Azarov, I. A., Shvets, V. A., Dulin, S. A., Mikhailov, N. N., Dvoretskii, S. A., Ikusov, D. G., Uzhakov, I. N. & Rykhlitskii, S. V., 1 нояб. 2017, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53, 6, стр. 630-638 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Recent experiments at NovoFEL user stations

Knyazev, B. A., Azarov, I. A., Chesnokov, E. N., Choporova, Y. Y., Gerasimov, V. V., Gorbachev, Y. I., Getmanov, Y. V., Goldenberg, B. G., Kameshkov, O. E., Koshlyakov, P. V., Kotelnikov, I. A., Kozlov, A. S., Kubarev, V. V., Kulipanov, G. N., Malyshkin, S. B., Nikitin, A. K., Nikitin, P. A., Osintseva, N. D., Pavelyev, V. S., Peltek, S. E., еще 14Petrov, A. K., Popik, V. M., Salikova, T. V., Scheglov, M. A., Seredniakov, S. S., Shastin, V. N., Shevchenko, O. A., Shvets, V. A., Skorokhod, D. A., Skrinsky, A. N., Veber, S. L., Vinokurov, N. A., Voloshinov, V. B. & Zhukavin, R. K., 23 нояб. 2018, в: EPJ Web of Conferences. 195, 00002.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

Shvets, V. A., Marin, D. V., Kuznetsova, L. S., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 20 июл. 2024, в: Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 91, 2, стр. 91-95 5 стр., 6.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Temperature Dependence of the Spectra of Optical Constants of CdTe in the Region of the Absorption Edge

Shvets, V. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhiitskii, S. V., апр. 2024, в: Optics and Spectroscopy. 132, 4, стр. 403-408 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование