Dispersion of the refractive index in high-k dielectrics

Shvets, V. A., Kruchinin, V. N. & Gritsenko, V. A., 1 нояб. 2017, в: Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya). 123, 5, стр. 728-732 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Dynamics of Growth of the Native Oxide of Cd _xHg_1−xTe

Sidorov, G. Y., Shvets, V. A., Sidorov, Y. G. & Varavin, V. S., 1 нояб. 2017, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53, 6, стр. 617-624 8 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Polarization Pyrometry of Layered Semiconductor Structures under Conditions of Low-Temperature Technological Processes

Azarov, I. A., Shvets, V. A., Dulin, S. A., Mikhailov, N. N., Dvoretskii, S. A., Ikusov, D. G., Uzhakov, I. N. & Rykhlitskii, S. V., 1 нояб. 2017, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53, 6, стр. 630-638 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Recent experiments at NovoFEL user stations

Knyazev, B. A., Azarov, I. A., Chesnokov, E. N., Choporova, Y. Y., Gerasimov, V. V., Gorbachev, Y. I., Getmanov, Y. V., Goldenberg, B. G., Kameshkov, O. E., Koshlyakov, P. V., Kotelnikov, I. A., Kozlov, A. S., Kubarev, V. V., Kulipanov, G. N., Malyshkin, S. B., Nikitin, A. K., Nikitin, P. A., Osintseva, N. D., Pavelyev, V. S., Peltek, S. E., еще 14Petrov, A. K., Popik, V. M., Salikova, T. V., Scheglov, M. A., Seredniakov, S. S., Shastin, V. N., Shevchenko, O. A., Shvets, V. A., Skorokhod, D. A., Skrinsky, A. N., Veber, S. L., Vinokurov, N. A., Voloshinov, V. B. & Zhukavin, R. K., 23 нояб. 2018, в: EPJ Web of Conferences. 195, 00002.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв. 2019, в: Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Ellipsometric Method of Substrate Temperature Measurement in Low-Temperature Processes of Epitaxy of InSb Layers

Shvets, V. A., Azarov, I. A., Rykhlitskii, S. V. & Toropov, A. I., 1 янв. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 1, стр. 8-15 8 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

An Ellipsometric Technique with an ATR Module and a Monochromatic Source of Radiation for Measurement of Optical Constants of Liquids in the Terahertz Range

Azarov, I. A., Choporova, Y. Y., Shvets, V. A. & Knyazev, B. A., 1 февр. 2019, в: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves. 40, 2, стр. 200-209 10 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Determining the Compositional Profile of HgTe/Cd _xHg_{1 – x}Te Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry

Shvets, V. A., Mikhailov, N. N., Ikusov, D. G., Uzhakov, I. N. & Dvoretskii, S. A., 1 авг. 2019, в: Optics and Spectroscopy. 127, 2, стр. 340-346 7 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

MBE-grown MCT hetero- A nd nanostructures for IR and THz detectors

Dvoretsky, S. A., Mikhailov, N. N., Remesnik, V. G., Sidorov, Y. G., Shvets, V. A., Ikusov, D. G., Varavin, V. S., Yakushev, M. V., Gumenjuk-Sichevska, J. V., Golenkov, A. G., Lysiuk, I. O., Tsybrii, Z. F., Shevchik-Shekera, A. V., Sizov, F. F., Latyshev, A. V. & Aseev, A. L., 1 сент. 2019, в: Opto-electronics Review. 27, 3, стр. 282-290 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

A Mask Based on a Si Epitaxial Layer for the Self-Catalytic Nanowire Growth on GaAs(111)B and GaAs(100) Substrates

Emelyanov, E. A., Nastovjak, A. G., Petrushkov, M. O., Esin, M. Y., Gavrilova, T. A., Putyato, M. A., Schwartz, N. L., Shvets, V. A., Vasev, A. V., Semyagin, B. R. & Preobrazhenskii, V. V., 1 февр. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 2, стр. 161-164 4 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование