151 - 160 из 162Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Charge transport mechanism in [GeOx](z)[SiO2](1-z) based MIS structures

    Yushkov, I. D., Gismatulin, A. A., Prosvirin, I. P., Kamaev, G. N., Marin, D. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 9 дек. 2024, в: Applied Physics Letters. 125, 24, 242901.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Characterization of Structure, Morphology, Optical and Electrical Properties of AlN–Al–V Multilayer Thin Films Fabricated by Reactive DC Magnetron Sputtering

    Миронова, М. И., Капишников, А. В., Хамуд, Г., Володин, В. А., Азаров, И. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н., Супрун, Е., Chirikov, N., Davletkildeev, N. A., Baidakov, A. N., Kovivchak, V. S., Baranova, L. V., Струнин, В. И. & Гейдт, П. В., февр. 2023, в: Coatings. 13, 2, 223.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Change in the InSb nanocrystal growth direction at the Si/SiO2 interface during ion-beam synthesis

    Tyschenko, I., Gutakovskii, A., Zhang, R., Vdovin, V., Volodin, V. & Popov, V., 15 окт. 2024, в: Materials Letters. 373, 3 стр., 137114.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Atomic Structure and Optical Properties of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposited SiCOH Low-k Dielectric Film

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Rykhlitskii, S. V., Gritsenko, V. A., Posvirin, I. P., Shi, X. & Baklanov, M. R., июн. 2021, в: Optics and Spectroscopy. 129, 6, стр. 645-651 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Atomic Structure and Optical Properties of CaSi2 Layers Grown on CaF2/Si Substrates

    Zinovyev, V. A., Kacyuba, A. V., Volodin, V. A., Zinovieva, A. F., Cherkova, S. G., Smagina, Z. V., Dvurechenskii, A. V., Krupin, A. Y., Borodavchenko, O. M., Zhivulko, V. D. & Mudryi, A. V., окт. 2021, в: Semiconductors. 55, 10, стр. 808-811 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Atomic and Electronic Structures of Metal-Rich Noncentrosymmetric ZrOx

    Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K. & Prosvirin, I. P., 1 авг. 2018, в: JETP Letters. 108, 4, стр. 226-230 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Atomic and Electronic Structures of a-SiN x:H

    Gritsenko, V. A., Kruchinin, V. N., Prosvirin, I. P., Novikov, Y. N., Chin, A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 924-934 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Anisotropy of optical phonons in biaxially stressed zinc-blende- and diamond-type semiconductors and alloys

    Volodin, V. A. & Sachkov, V. A., 1 авг. 2021, в: Physica B: Condensed Matter. 614, 413008.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Aluminum-induced crystallization of silicon suboxide thin films

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Khmel, S. Y., Volodin, V. A., Vdovin, V. I. & Gutakovskii, A. K., 1 сент. 2018, в: Applied Physics A: Materials Science and Processing. 124, 9, 4 стр., 646.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. All Nonmetal Resistive Random Access Memory

    Yen, T. J., Gismatulin, A., Volodin, V., Gritsenko, V. & Chin, A., 16 апр. 2019, в: Scientific Reports. 9, 1, стр. 6144 5 стр., 6144.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...12 13 14 15 16 17 Далее

ID: 3443008