21 - 30 из 144Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Effect of mono-, di-, and triethylene glycol on the activity of phosphate-doped NiMo/al 2 O 3 hydrotreating catalysts

    Nuzhdin, A. L., Bukhtiyarova, G. A., Porsin, A. A., Prosvirin, I. P., Deliy, I. V., Volodin, V. A., Gerasimov, E. Y., Vlasova, E. N. & Bukhtiyarov, V. I., 1 янв. 2019, в: Catalysts. 9, 1, 11 стр., 96.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Electrical and optical characteristics of boron doped nanocrystalline diamond films

    Stuchliková, T. H., Remes, Z., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P., Stuchlik, J. & Volodin, V. A., 1 окт. 2019, в: Vacuum. 168, 108813.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Electroluminescence of thin film p-i-n diodes based on a-SiC:H with integrated Ge nanoparticles

    Remes, Z., Stuchlik, J., Stuchlikova, T., Kupcik, J., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P. & Volodin, V. A., 1 дек. 2019, в: EPJ Applied Physics. 88, 3, 6 стр., 19025.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Electron-Beam Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O., Merkulova, I. E., Lunev, N. A. & Volodin, V. A., мар. 2021, в: Technical Physics Letters. 47, 3, стр. 263-265 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Electron-Beam Radiation Effects at the Molecular-Beam Epitaxial Growth of CaF2 Film on Silicon

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N. & Volodin, V. A., 2023, в: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 87, 6, стр. 809-812 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Electron-Beam Radiation Effects in Multilayer Structures Grown with the Periodical Deposition of Si and CaF2 on Si(111)

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A., Stepina, N. P., Zinovieva, A. F. & Zinovyev, V. A., мая 2023, в: Materials Today: Proceedings. 14, 1, 68.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  7. Electronic structure and nanoscale potential fluctuations in strongly nonstoichiometric PECVD SiOx

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Krivyakin, G. K., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 февр. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 529, 4 стр., 119796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Electronic structure of silicon oxynitride films grown by plasma-enhanced chemical vapor deposition for memristor application

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Cherkova, S. G., Prosvirin, I. P., Astankova, K. N. & Gritsenko, V. A., 15 дек. 2022, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 598, 8 стр., 121925.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Ellipsometry, Raman spectroscopy and SOI- nanowire biosensor in diagnosis of colorectalcancer

    Kruchinina, M. V., Prudnikova, Y. I., Kurilovich, S. A., Gromov, A. A., Kruchinin, V. N., Atuchin, V. V., Naumova, O. V., Spesivtsev, E. V., Volodin, V. A., Peltek, S. E., Shuvalov, G. V. & Generalov, V. M., 2017, в: Siberian Journal of Oncology. 16, 4, стр. 32-41 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Engineering of graphene flakes in the process of synthesis in DC plasma jets

    Antonova, I. V., Shavelkina, M. B., Ivanov, A. I., Nebogatikova, N. A., Soots, R. A. & Volodin, V. A., 10 нояб. 2022, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 24, 46, стр. 28232-28241 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 ...15 Далее

ID: 3443008