1. Photonic metasurface made of array of lens-like SiGe Mie resonators formed on (100) Si substrate via dewetting

    Poborchii, V., Shklyaev, A., Bolotov, L., Uchida, N., Tada, T. & Utegulov, Z. N., 1 дек. 2017, в: Applied Physics Express. 10, 12, 4 стр., 125501.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Raman and photoluminescence spectroscopy of SiGe layer evolution on Si(100) induced by dewetting

    Shklyaev, A. A., Volodin, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 7 янв. 2018, в: Journal of Applied Physics. 123, 1, 8 стр., 015304.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Redirecting Incident Light with Mie Resonance-Based Coatings

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Zheng, Z. & Tsarev, A. V., нояб. 2023, в: Photonics. 10, 11, 1286.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  4. Scintillator surface modification by glancing angle deposition of thin ZrO2films

    Azarov, I. A., Kuper, K. E., Lemzyakov, A. G., Porosev, V. V. & Shklyaev, A. A., 1 мая 2022, в: Journal of Instrumentation. 17, 5, T05013.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Shapes of Ge and Si Particles Created on a Si/SiO2Substrate by Lift-off Technique

    Utkin, D. & Shklyaev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 33-36 4 стр. 9507661. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  6. Shapes of the micron-sized SiGe islands grown on Si(100) in Dewetting Conditions

    Budazhapova, A. E. & Shklyaev, A. A., 13 авг. 2018, 2018 19th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM 2018 - Proceedings. IEEE Computer Society, Том 2018-July. стр. 16-18 3 стр. 8434951. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2018-July).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  7. Slip Electron Flow in GaAs Microscale Constrictions

    Sarypov, D. I., Pokhabov, D. A., Pogosov, A. G., Zhdanov, E. Y., Shevyrin, A. A., Bakarov, A. K. & Shklyaev, A. A., 5 дек. 2025, в: Physical Review Letters. 135, 23, 16 стр., 236301.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Structural Changes in Nanometer-Thick Silicon-on-Insulator Films During High-Temperature Annealing

    Tyschenko, I. E., Spesivtsev, E. V., Shklyaev, A. A. & Popov, V. P., мар. 2022, в: Semiconductors. 56, 3, стр. 223-229 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  9. Submicron- and micron-sized SiGe island formation on Si(100) by dewetting

    Shklyaev, A. A. & Budazhapova, A. E., 30 нояб. 2017, в: Thin Solid Films. 642, стр. 345-351 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. Surface Morphologies Obtained by Ge Deposition on Bare and Oxidized Silicon Surfaces at Different Temperatures

    Shklyaev, A. A., Romanyuk, K. N., Kosolobov, S. S. & Latyshev, A. V., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 325-344 20 стр. (Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийглава/разделнаучнаяРецензирование

ID: 3455017