Submicron- and micron-sized SiGe island formation on Si(100) by dewetting › Обзор исследований

Исследовательский портал НГУ

Submicron- and micron-sized SiGe island formation on Si(100) by dewetting

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Физический факультет

DOI

https://doi.org/10.1016/j.tsf.2017.09.045
Конечная издательская версия

A. A. Shklyaev
A. E. Budazhapova

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	345-351
Число страниц	7
Журнал	Thin Solid Films
Том	642
DOI	https://doi.org/10.1016/j.tsf.2017.09.045
Состояние	Опубликовано - 30 нояб. 2017

Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 9869110