1. 2020
  2. Formation of irregular morphology on nanostructured surface by gas cluster ion beam

    Pelenovich, V., Zeng, X., Zuo, W., Tolstogouzov, A., Korobeishchikov, N., Fu, D. & Yang, B., 1 дек. 2020, в: Vacuum. 182, 4 стр., 109705.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Aluminium nitride thin films surface smoothing by argon cluster ions

    Korobeishchikov, N., Geydt, P., Nikolaev, I., Strunin, V. & Roenko, M., 14 сент. 2020, Proceedings - 2020 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects, EFRE 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 722-725 4 стр. 9242187. (Proceedings - 2020 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects, EFRE 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  4. Potassium titanyl phosphate sputtering features by argon cluster ions

    Nikolaev, I., Korobeishchikov, N. & Roenko, M., 14 сент. 2020, Proceedings - 2020 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects, EFRE 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 526-528 3 стр. 9242181. (Proceedings - 2020 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects, EFRE 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  5. Anomalous sputtering of the lithium triborate single crystal surface by argon cluster ions

    Korobeishchikov, N. G., Nikolaev, I. V., Roenko, M. A., Yakovlev, V. V., Pelenovich, V., Fu, D. J. & Tosltogouzov, A., сент. 2020, в: Vacuum. 179, 5 стр., 109555.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. Influence of the Finite-Size Effect on the Cluster Ion Emission of Silicon Nanostructures

    Tolstoguzov, A. B., Drozdov, M. N., Ieshkin, A. E., Tatarintsev, A. A., Myakon’kikh, A. V., Belykh, S. F., Korobeishchikov, N. G., Pelenovich, V. O. & Fu, D. J., 1 апр. 2020, в: JETP Letters. 111, 8, стр. 467-471 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  7. Влияние размерного эффекта на кластерную ионную эмиссию наноструктур кремния

    Толстогузов, А. Б., Дроздов, М. Н., Иешкин, А. Е., Татаринцев, А. А., Мяконьких, А. В., Белых, С. Ф., Коробейщиков, Н. Г., Пеленович, В. О. & Фу, Д., 11 мар. 2020, в: Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 111, 7-8 (4), стр. 531-535 5 стр., 20.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Surface smoothing of polycrystalline AlN thin films by argon cluster ions: 7th International Congress of Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE 2020):

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В., Роенко, М. А. & Гейдт, П. В., 2020, Surface smoothing of polycrystalline AlN thin films by argon cluster ions : 7th International Congress of Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE 2020): Abstracts. . Томск, стр. 256 1 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборникеРецензирование

  9. 2019
  10. Методика измерения коэффициента отражения лазерного излучения вблизи угла Брюстера для контроля качества поверхностей оптически прозрачных диэлектриков

    Коробейщиков, Н. Г. & Николаев, И. В., 4 дек. 2019, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 31, 4 дек. 2019, Дата приоритета 3 дек. 2019

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрациисвидетельство о регистрации ноу-хау

  11. Formation of nanostructures on the surface of KTP single crystals by argon cluster ion beam

    Nikolaev, I. V., Korobeishchikov, N. G. & Roenko, M. A., 28 нояб. 2019, в: Journal of Physics: Conference Series. 1382, 1, 4 стр., 012162.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

  12. Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов

    Горчаков, А. В., Коробейщиков, Н. Г., Федюхин, Л. А. & Николаев, И. В., 22 окт. 2019, IPC № G01B11/30, G01B26/02, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2703830, Дата приоритета 29 мар. 2019, № приоритета 2019109433

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрациипатент на изобретение

ID: 3458050