1. 2023
  2. Scanning of Electronic States in a Quantum Point Contact Using Asymmetrically Biased Side Gates

    Pokhabov, D. A., Pogosov, A. G., Zhdanov, E. Y. & Bakarov, A. K., февр. 2023, в: JETP Letters. 117, 4, стр. 299-305 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Topological Phase Transitions Driven by Sn Doping in (Mn1−xSnx)Bi2Te4

    Tarasov, A. V., Makarova, T. P., Estyunin, D. A., Eryzhenkov, A. V., Klimovskikh, I. I., Golyashov, V. A., Kokh, K. A., Tereshchenko, O. E. & Shikin, A. M., февр. 2023, в: Symmetry. 15, 2, 469.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Импульсный терагерцовый спектрометр с полупроводниковым генератором на эффекте модуляции приповерхностного поля

    Шевченко, О. Н., Николаев, Н. А. & Терещенко, О. Е., 6 февр. 2023, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2789628, 16 июн. 2022, Дата приоритета 16 июн. 2022, № приоритета 2022116206

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

  5. Mechanism of Transverse Charge Transfer in Thin Films of Hexagonal Boron Nitride

    Islamov, D. R., Perevalov, T. V., Gismatulin, A. A., Azarov, I. A., Spesivtsev, E. V. & Gritsenko, V. A., мар. 2023, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 136, 3, стр. 345-352 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Observation of different edge current states localization scenarios in a HgTe based two-dimensional topological insulator

    Olshanetsky, E. B., Kvon, Z. D., Gusev, G. M. & Mikhailov, N. N., мар. 2023, в: Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures. 147, 115605.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Kinetically driven thermal roughening of semiconductor surfaces: experiment on GaAs and Monte Carlo simulation

    Kazantsev, D. M., Akhundov, I. O., Kozhuhov, A. S., Khoroshilov, V. S., Shwartz, N. L., Alperovich, V. L. & Latyshev, A. V., 1 мар. 2023, в: Physica Scripta. 98, 3, 035702.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Plasmon-Enhanced Raman Scattering by Multilayered Graphene at the Micro- and Nanoscale: SERS and TERS Analysis

    Kurus, N. N., Milekhin, I. A., Nebogatikova, N. A., Antonova, I. V., Rodyakina, E. E., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 16 мар. 2023, в: Journal of Physical Chemistry C. 127, 10, стр. 5013-5020 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Optical Reflectance of Composites with Aligned Engineered Microplatelets

    Poloni, E., Galinski, H., Bouville, F., Wilts, B., Braginsky, L., Bless, D., Shklover, V., Sicher, A. & Studart, A. R., 4 апр. 2023, в: Advanced Optical Materials. 11, 7, 2201989.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Electron-Beam Radiation Effects in Multilayer Structures Grown with the Periodical Deposition of Si and CaF2 on Si(111)

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A., Stepina, N. P., Zinovieva, A. F. & Zinovyev, V. A., мая 2023, в: Materials Today: Proceedings. 14, 1, 68.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  11. Local phonon imaging of AlN nanostructures with nanoscale spatial resolution

    Milekhin, I., Anikin, K., Kurus, N. N., Mansurov, V. G., Malin, T. V., Zhuravlev, K. S., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 16 мая 2023, в: Nanoscale Advances. 5, 10, стр. 2820-2830 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 3084764