551 - 555 из 555Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Aluminium nitride thin films surface smoothing by argon cluster ions

    Korobeishchikov, N., Geydt, P., Nikolaev, I., Strunin, V. & Roenko, M., 14 сент. 2020, Proceedings - 2020 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects, EFRE 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 722-725 4 стр. 9242187. (Proceedings - 2020 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects, EFRE 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  2. A High-Efficiency Method for Scanning Supersonic Jets of Rarefied Gases

    Yaskin, A. S., Kalyada, V. V., Zarvin, A. E. & Chinenov, S. T., 1 июл. 2020, в: Instruments and Experimental Techniques. 63, 3, стр. 430-434 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Accelerated cluster ion beams for materials processing: XXXI International Conference on Phenomena in Ionized Gases (ICPIG XXXI). Granada, Spain. 14-19 July 2013. Proceedings. PS2-095.

    Korobeishchikov, N. G., Kalyada, V. V., Zarvin, A. E. & Shmakov, A. A., 2013.

    Результаты исследований: Материалы конференций › материалы › Рецензирование

  4. Abnormal excitation of argon radiation upon electron-beam activation in condensed supersonic jets of mixtures: XXXI International Conference on Phenomena in Ionized Gases (ICPIG XXXI). Granada, Spain. 14-19 July 2013. Proceedings. PS2-085.

    Madirbaev, V. G., Zarvin, A. E. & Korobeishchikov, N. G., 2013.

    Результаты исследований: Материалы конференций › материалы › Рецензирование

  5. 1.534 µm Er electroluminescence in the RF magnetron deposited In2O3 : Er films on a Si substrate

    Feklistov, K. V., Lemzyakov, A. G., Abramkin, D. S., Svit, K. A., Pugachev, A. M., Volodin, V. A., Marin, D. V., Spesivsev, E. V., Azarov, I. A., Safronov, L. N., Kochubey, S. A., Ershov, K. S., Kapishnikov, A. V., Shmakov, A. N., Shklyaev, A. A. & Zhivodkov, Y. A., 30 июн. 2026, в: Modern Electronic Materials. 12, 2, стр. 95-102 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...52 53 54 55 56 Далее

ID: 3082762