161 - 170 из 188Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Reentrant wideband quasi-elliptic bandpass filter

    Atuchin, V. V., Gorbachev, A. P., Khrustalev, V. A. & Tarasenko, N. V., 11 февр. 2019, в: Journal of Electromagnetic Waves and Applications. 33, 3, стр. 320-334 15 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Numerical Modeling of Abnormal Blocking Effect for the Design of Novel Optical Sensor Element Constructed by Periodic Grating Strips Over Si/SiO2 Wire Waveguide

    Tsarev, A., De Leonardis, F. & Passaro, V. M. N., 6 февр. 2019, в: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. 216, 3, 5 стр., 1800480.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Brillouin Scattering From Langmuir–Blodgett Films Doped With CdS and CuS Nanoclusters

    Adichtchev, S. V., Surovtsev, N. V., Duda, T. A. & Milekhin, A. G., 1 февр. 2019, в: Physica Status Solidi (B) Basic Research. 256, 2, 4 стр., 1800328.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Crystallographic Analysis of the Datolite (CaBSiO 4 OH) to Okaymalite (Ca 2 B 2 SiO 7 ) Structural Transformation under Dehydration

    Borisov, S. V., Pervukhina, N. V. & Magarill, S. A., 1 февр. 2019, в: Journal of Structural Chemistry. 60, 2, стр. 268-274 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. On-chip Piezoelectric Actuation of Nanomechanical Resonators Containing a Two-dimensional Electron Gas

    Shevyrin, A. A., Bakarov, A. K., Shklyaev, A. A., Arakcheev, A. S., Kurosu, M., Yamaguchi, H. & Pogosov, A. G., 1 февр. 2019, в: JETP Letters. 109, 4, стр. 261-265 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. The Influence of the InAlAs Layer Surface Morphology on the Temperature Dependence of Parameters of Au/Ti/n-InAlAs(001) Schottky Diodes

    Chistokhin, I. B., Aksenov, M. S., Valisheva, N. A., Dmitriev, D. V., Marchishin, I. V., Toropov, A. I. & Zhuravlev, K. S., 1 февр. 2019, в: Technical Physics Letters. 45, 2, стр. 180-184 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Electromigration effect on the surface morphology during the Ge deposition on Si(1 1 1) at high temperatures

    Shklyaev, A. A. & Latyshev, A. V., 28 янв. 2019, в: Applied Surface Science. 465, стр. 10-14 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Structural and vibrational properties of PVT grown BiTeCl microcrystals

    Atuchin, V. V., Gavrilova, T. A., Kokh, K. A., Kuratieva, N. V., Pervukhina, N. V., Surovtsev, N. V. & Tereshchenko, O. E., 28 янв. 2019, в: Materials Research Express. 6, 4, 7 стр., 045912.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Charge transport mechanism of high-resistive state in RRAM based on SiOx

    Gismatulin, A. A., Kruchinin, V. N., Gritsenko, V. A., Prosvirin, I. P., Yen, T. J. & Chin, A., 21 янв. 2019, в: Applied Physics Letters. 114, 3, 5 стр., 033503.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Composition-sensitive growth kinetics and dispersive optical properties of thin HfxTi1−xO2 (0 ≤ x ≤ 1) films prepared by the ALD method

    Atuchin, V. V., Lebedev, M. S., Korolkov, I. V., Kruchinin, V. N., Maksimovskii, E. A. & Trubin, S. V., 15 янв. 2019, в: Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 30, 1, стр. 812-823 12 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...13 14 15 16 17 18 19 Далее

ID: 19061863