1. Charge transport mechanism and amphoteric nature of traps in amorphous silicon nitride

    Novikov, Y. N. & Gritsenko, V. A., 15 сент. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 544, 7 стр., 120186.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Charge Transport in Nonstoichiometric SiO x Obtained by Treatment of Thermal SiO2 in Hydrogen Plasma of Electronic-Cyclotron Resonance

    Iskhakzay, R. M. K., Kruchinin, V. N., Aliev, V. S., Gritsenko, V. A., Dementieva, E. V. & Zamoryanskaya, M. V., февр. 2022, в: Russian Microelectronics. 51, 1, стр. 24-35 12 стр., 3.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Charge Transport in Amorphous Silicon Nitride

    Novikov, Y. N. & Gritsenko, V. A., окт. 2021, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 133, 4, стр. 488-493 6 стр., 13.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Cation and anion sublattices in a series of typical cristal structures

    Borisov, S., Magarill, S. A. & Pervukhina, N., окт. 2020, в: Journal of Structural Chemistry. 61, 10, стр. 1585-1593 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Brillouin Scattering From Langmuir–Blodgett Films Doped With CdS and CuS Nanoclusters

    Adichtchev, S. V., Surovtsev, N. V., Duda, T. A. & Milekhin, A. G., 1 февр. 2019, в: Physica Status Solidi (B) Basic Research. 256, 2, 4 стр., 1800328.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Borate nonlinear optical single crystal surface finishing by argon cluster ion sputtering

    Korobeishchikov, N. G., Nikolaev, I. V., Atuchin, V. V., Prosvirin, I. P., Tolstogouzov, A., Pelenovich, V. & Fu, D. J., дек. 2021, в: Surfaces and Interfaces. 27, 101520.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Bipolar conductivity in ferroelectric La:HfZrO films

    Perevalov, T. V., Gismatulin, A. A., Gritsenko, V. A., Prosvirin, I. P., Mehmood, F., Mikolajick, T. & Schroeder, U., 28 июн. 2021, в: Applied Physics Letters. 118, 26, 262903.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Bimetallic Mixed-Ligand Cobalt(II), Nickel(II), and Copper(II) Complexes [MHg(C6H6N2O)2(SCN)4]: Synthesis and Crystal Structure

    Cherkasova, T. G., Pervukhina, N. V., Kurateva, N. V., Barantsev, D. A., Tatarinova, E. S. & Cherkasova, E. V., 1 апр. 2019, в: Russian Journal of Inorganic Chemistry. 64, 4, стр. 459-464 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Atomic structure of high Miller index Si(47 35 7) surface

    Zhachuk, R. A., Dolbak, A. E. & Shklyaev, A. A., мар. 2020, в: Surface Science. 693, 5 стр., 121549.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Atomic Structure and Optical Properties of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposited SiCOH Low-k Dielectric Film

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Rykhlitskii, S. V., Gritsenko, V. A., Posvirin, I. P., Shi, X. & Baklanov, M. R., июн. 2021, в: Optics and Spectroscopy. 129, 6, стр. 645-651 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 19061863