Translated title of the contributionСтруктурные изменения в пленках кремний-на-изоляторе нанометровой толщины при высокотемпературном отжиге
Original languageEnglish
Pages (from-to)223-229
Number of pages7
JournalSemiconductors
Volume56
Issue number3
DOIs
Publication statusPublished - Mar 2022

    Research areas

  • amorphization, nanostructures, silicon-on-insulator, thermal stability

    OECD FOS+WOS

  • 2.05 MATERIALS ENGINEERING
  • 1.03 PHYSICAL SCIENCES AND ASTRONOMY

ID: 36167040