Standard

Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов. / Горчаков, Александр Всеволодович (Author); Коробейщиков, Николай Геннадьевич (Author); Федюхин, Леонид Анатольевич (Author) et al.

Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Patent No.: 2703830. Oct 22, 2019.

Research output: Patent › Patent for invention

Harvard

Горчаков, АВ, Коробейщиков, НГ, Федюхин, ЛА & Николаев, ИВ Oct. 22 2019, Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов, Patent No. 2703830. <https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=RUPAT&DocNumber=2703830&TypeFile=html>

APA

Горчаков, А. В., Коробейщиков, Н. Г., Федюхин, Л. А., & Николаев, И. В. (2019). Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов. (Patent No. 2703830). Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=RUPAT&DocNumber=2703830&TypeFile=html

Vancouver

Горчаков АВ, Коробейщиков НГ, Федюхин ЛА, Николаев ИВ, inventors. Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов. 2703830. 2019 Oct 22.

Author

Горчаков, Александр Всеволодович (Author) ; Коробейщиков, Николай Геннадьевич (Author) ; Федюхин, Леонид Анатольевич (Author) et al. / Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов. Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Patent No.: 2703830. Oct 22, 2019.

BibTeX

@misc{f5ce0c0daa1843dabb110b43daeb1136,
title = "Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов",
abstract = "Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.",
keywords = "ОПТИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ, ПРИПОВЕРХНОСТНЫЙ ПОВРЕЖДЕННЫЙ СЛОЙ, УГОЛ БРЮСТЕРА, КОЭФФИЦИЕНТ ОТРАЖЕНИЯ",
author = "Горчаков, {Александр Всеволодович} and Коробейщиков, {Николай Геннадьевич} and Федюхин, {Леонид Анатольевич} and Николаев, {Иван Владимирович}",
year = "2019",
month = oct,
day = "22",
language = "русский",
publisher = "Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности",
type = "Patent",
note = "2703830; G01B11/30,G01B26/02",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов

AU - Горчаков, Александр Всеволодович

AU - Коробейщиков, Николай Геннадьевич

AU - Федюхин, Леонид Анатольевич

AU - Николаев, Иван Владимирович

PY - 2019/10/22

Y1 - 2019/10/22

N2 - Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.

AB - Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.

KW - ОПТИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ

KW - ПРИПОВЕРХНОСТНЫЙ ПОВРЕЖДЕННЫЙ СЛОЙ

KW - УГОЛ БРЮСТЕРА

KW - КОЭФФИЦИЕНТ ОТРАЖЕНИЯ

M3 - патент на изобретение

M1 - 2703830

PB - Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности

ER -

ID: 21394967