Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Финишная полировка поверхности корундовой керамики ионно-кластерным пучком аргона. / Яковлева, Марина Владимировна; Коробейщиков, Николай Геннадьевич; Николаев, Иван Владимирович et al.
In: Стекло и керамика, Vol. 99, No. 6, 28.06.2026, p. 48-54.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - Финишная полировка поверхности корундовой керамики ионно-кластерным пучком аргона
AU - Яковлева, Марина Владимировна
AU - Коробейщиков, Николай Геннадьевич
AU - Николаев, Иван Владимирович
AU - Лукьянов, Александр Владимирович
AU - Монастырев, Е.В.
AU - Филимонова, И.Д.
AU - Аввакумов, Д.К.
N1 - Финишная полировка поверхности корундовой керамики ионно-кластерным пучком аргона / М. В. Яковлева, Н. Г. Коробейщиков, И. В. Николаев [и др.] // Стекло и керамика. – 2026. – Т. 99, № 6(1182). – С. 48-54. – DOI 10.14489/glc.2026.06.pp.048-054. – EDN DUKEGX. Работа выполнена при финансовой поддержке гранта Российского научного фонда № 23-79-10061 (https://rscf.ru/project/23-79-10061/).
PY - 2026/6/28
Y1 - 2026/6/28
N2 - Исследована применимость ионно-кластерного пучка аргона для полировки поверхности корундовой керамики. С использованием атомно-силовой микроскопии изучено изменение рельефа поверхности керамики ВК-100 после обработки кластерными ионами аргона в различных режимах: при малых и больших средних размерах кластерных ионов. Определены диапазоны латеральных размеров неровностей, при которых наблюдается сглаживание поверхности керамики.
AB - Исследована применимость ионно-кластерного пучка аргона для полировки поверхности корундовой керамики. С использованием атомно-силовой микроскопии изучено изменение рельефа поверхности керамики ВК-100 после обработки кластерными ионами аргона в различных режимах: при малых и больших средних размерах кластерных ионов. Определены диапазоны латеральных размеров неровностей, при которых наблюдается сглаживание поверхности керамики.
KW - корундовая керамика
KW - ионно-кластерный пучок
KW - атомно-силовая микроскопия
KW - шероховатость поверхности
KW - коэффициент распыления
KW - corundum ceramics
KW - gas cluster ion beam
KW - atomic-force microscopy
KW - atomic-force microscopy, surface roughness
KW - sputtering yield
UR - https://glass-ceramics.ru/ru/archivru/43-bez-rubriki/6679-rus-glc-2026-06-pp-048-054
UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=91650324
U2 - 10.14489/glc.2026.06.pp.048-054
DO - 10.14489/glc.2026.06.pp.048-054
M3 - статья
VL - 99
SP - 48
EP - 54
JO - Стекло и керамика
JF - Стекло и керамика
SN - 0131-9582
IS - 6
ER -
ID: 79643585