121 - 130 out of 384Page size: 10
  1. 2023

  2. Импульсный терагерцовый спектрометр с полупроводниковым генератором на эффекте модуляции приповерхностного поля

    Шевченко, О. Н., Николаев, Н. А. & Терещенко, О. Е., 6 Feb 2023, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2789628, 16 Jun 2022, Priority date 16 Jun 2022, Priority No. 2022116206

    Research output: Patent › Patent for invention

  3. Определение углов на электронно-микроскопических изображениях по Фурье-дифрактограммам

    Ishchenko, A., 2 Feb 2023, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2023612412, Priority date 15 Dec 2022, Priority No. 2022684747

    Research output: Patent › Software registration

  4. Stability of graphene film on copper, silicon, and glass substrates in contact with boiling water

    Смовж, Д. В., Сахаров, С. З., Андрющенко, В. А., Сорокин, Д. В., Бетке, И. А., Комлина, С. В., Старинский, С. В. & Максимовский, Е. А., 1 Feb 2023, In: Interfacial Phenomena and Heat Transfer. 11, 2, p. 1-11 11 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  5. Characterization of Structure, Morphology, Optical and Electrical Properties of AlN–Al–V Multilayer Thin Films Fabricated by Reactive DC Magnetron Sputtering

    Миронова, М. И., Капишников, А. В., Хамуд, Г., Володин, В. А., Азаров, И. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н., Супрун, Е., Chirikov, N., Davletkildeev, N. A., Baidakov, A. N., Kovivchak, V. S., Baranova, L. V., Струнин, В. И. & Гейдт, П. В., Feb 2023, In: Coatings. 13, 2, 223.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  6. Charge Transport Mechanism in the Forming-Free Memristor Based on PECVD Silicon Oxynitride

    Gismatulin, A. A., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Gritsenko, V. A., Feb 2023, In: Electronics (Switzerland). 12, 3, 598.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  7. Detection of Terahertz Frequencies in S-Doped GaSe Crystals Using Laser Pulses at Telecom Wavelengths

    Shevchenko, O. N., Mikerin, S. L., Kokh, K. A. & Nikolaev, N. A., Feb 2023, In: Applied Sciences (Switzerland). 13, 4, 2045.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  8. Formation of light-emitting defects in silicon by swift heavy ion irradiation and subsequent annealing

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., Feb 2023, In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 535, p. 132-136 5 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  9. Memristors Based on Many-Layer Non-Stoichiometric Germanosilicate Glass Films

    Yushkov, I. D., Yin, L., Kamaev, G. N., Prosvirin, I. P., Geydt, P. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., Feb 2023, In: Electronics (Switzerland). 12, 4, 873.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  10. Quantifying the surface modification induced by the argon cluster ion bombardment of KGd(WO4)2:Nd single crystal

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В., Атучин, В. В., Просвирин, И. П., Капишников, А. В., Толстогузов, А. Б. & Fu, D. J., Feb 2023, In: Materials Research Bulletin. 158, 112082.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  11. База данных оптических констант материалов для спектральной эллипсометрии

    Азаров, И. А., 20 Jan 2023, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2023620328, Priority date 23 Dec 2022, Priority No. 2022623906

    Research output: Patent › Database registration

Previous 1...9 10 11 12 13 14 15 16 ...39 Next

ID: 24342938