DOI

Переведенное названиеПрограммная компенсация систематических ошибок для сканирующей профилометрии in situ
Язык оригиналаанглийский
Число страниц7
ЖурналOptics and Lasers in Engineering
Том206
DOI
СостояниеОпубликовано - нояб. 2026

    Области исследований

  • Сканирующая профилометрия, Приборная метрология, Систематическая компенсация ошибок, Самостоятельное измерение, Реконструкция формы поверхности

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.02 ЭЛЕКТРОТЕХНИКА, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
  • 1.03.SY ОПТИКА
  • 1.01.PN МАТЕМАТИКА, ПРИКЛАДНАЯ

ID: 82542086