Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование
| Язык оригинала | английский |
|---|---|
| Название основной публикации | Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI |
| Редакторы | SM Shahriar, J Scheuer |
| Издатель | SPIE |
| Число страниц | 6 |
| Том | 10548 |
| ISBN (электронное издание) | 9781510615816 |
| DOI | |
| Состояние | Опубликовано - 1 янв. 2018 |
| Событие | Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI 2018 - San Francisco, Соединенные Штаты Америки Продолжительность: 29 янв. 2018 → 1 февр. 2018 |
| Название | Proceedings of SPIE |
|---|---|
| Издатель | SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING |
| Том | 10548 |
| ISSN (печатное издание) | 0277-786X |
| Конференция | Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI 2018 |
|---|---|
| Страна/Tерритория | Соединенные Штаты Америки |
| Город | San Francisco |
| Период | 29.01.2018 → 01.02.2018 |
ID: 14870474