DOI

Переведенное названиеУчет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая - Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3
Язык оригиналаанглийский
Номер статьи20
Страницы (с-по)2225-2238
Число страниц14
ЖурналJournal of Structural Chemistry
Том66
Номер выпуска10
DOI
СостояниеОпубликовано - 8 нояб. 2025

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.04.EI ХИМИЯ, ФИЗИЧЕСКАЯ

    Области исследований

  • XRD, accuracy, area detector, calibration, eccentricity, reference, small crystals, unit cell parameters

ID: 72580071