Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
Сглаживание тонких поликристаллических пленок AlN кластерными ионами аргона. / Николаев, Иван Владимирович; Коробейщиков, Николай Геннадьевич; Роенко, Максим Анатольевич и др.
в: Письма в Журнал технической физики, Том 47, № 6, 12.01.2021, стр. 44-47.Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
}
TY - JOUR
T1 - Сглаживание тонких поликристаллических пленок AlN кластерными ионами аргона
AU - Николаев, Иван Владимирович
AU - Коробейщиков, Николай Геннадьевич
AU - Роенко, Максим Анатольевич
AU - Гейдт, Павел Викторович
AU - Струнин, Владимир Иванович
N1 - Николаев И.В., Коробейщиков Н.Г., Роенко М.А., Гейдт П.В., Струнин В.И. Сглаживание тонких поликристаллических пленок AlN кластерными ионами аргона // Письма в Журнал технической физики. - 2021. - Т. 47. - № 6. - С. 44-47
PY - 2021/1/12
Y1 - 2021/1/12
N2 - Исследована модификация поверхности тонких поликристаллических пленок нитрида алюминия с помощью бомбардировки ионно-кластерным пучком. Обработка проводилась высоко- (105 eV/atom) и низкоэнергетическими (10 eV/atom) кластерными ионами аргона. С помощью метода атомно-силовой микроскопии с применением спектральной функции шероховатости продемонстрировано высокоэффективное сглаживание наноструктурированной поверхности в широком диапазоне пространственных частот (ν = 0.02 − 128 µm^−1) при ультрамалой глубине травления (< 100 nm).
AB - Исследована модификация поверхности тонких поликристаллических пленок нитрида алюминия с помощью бомбардировки ионно-кластерным пучком. Обработка проводилась высоко- (105 eV/atom) и низкоэнергетическими (10 eV/atom) кластерными ионами аргона. С помощью метода атомно-силовой микроскопии с применением спектральной функции шероховатости продемонстрировано высокоэффективное сглаживание наноструктурированной поверхности в широком диапазоне пространственных частот (ν = 0.02 − 128 µm^−1) при ультрамалой глубине травления (< 100 nm).
UR - https://www.mendeley.com/catalogue/483f01f1-1453-3972-8f77-6d1c15d445e0/
U2 - 10.21883/PJTF.2021.06.50759.18536
DO - 10.21883/PJTF.2021.06.50759.18536
M3 - статья
VL - 47
SP - 44
EP - 47
JO - Письма в Журнал технической физики
JF - Письма в Журнал технической физики
SN - 0320-0116
IS - 6
ER -
ID: 27343217