Standard

Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров. / А.А., ГОЛИЦЫН; С.А., ГОЛИЦЫН; Н.А., СЕЙФИ.

в: Автометрия, Том 60, № 5, 2024, стр. 50-59.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Harvard

APA

Vancouver

Author

BibTeX

@article{94324601fe5e495fb615ecc208e68bbd,
title = "Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров",
abstract = "Предложена методика вычисления координаты положения круглого объекта на изображении и его диаметра. В основе методики лежит вычисление значений взаимных корреляций фрагмента анализируемого изображения с несколькими характерными изображениями-эталонами, чтобы одновременно определить, и какой эталон, и какое его смещение относительно исследуемого фрагмента являются наиболее подходящими. Методика позволяет не только вычислить размер и координаты, но и определить фактическое отсутствие объекта в поле зрения. Показана её реализуемость и практическая применимость на примере алгоритма анализа мест сварки проволочных соединений на поверхности полупроводников с характерным шариком, которые используются при сборке интегральных микросхем. Алгоритм может быть использован в целях неразрушающего контроля на производстве полупроводниковых изделий до их корпусирования. Алгоритм позволяет не только измерить диаметр шарика и определить, находится ли его координата в допуске или нет, но также установить, имеется ли соединение вообще.",
keywords = "Взаимная корреляция, Обработка изоображений, Диагностика полупроводниковых изделий, CROSS CORRELATION, IMAGE PROCESSING, BALL-BONDING DIAGNOSTICS",
author = "ГОЛИЦЫН А.А. and ГОЛИЦЫН С.А. and СЕЙФИ Н.А.",
note = "Голицын, А. А. Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров / А. А. Голицын, С. А. Голицын, Н. А. Сейфи // Автометрия. – 2024. – Т. 60, № 5. – С. 50-59. – DOI 10.15372/AUT20240506.",
year = "2024",
doi = "10.15372/aut20240506",
language = "русский",
volume = "60",
pages = "50--59",
journal = "Автометрия",
issn = "0320-7102",
publisher = "ФГУП {"}Издательство СО РАН{"}",
number = "5",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров

AU - А.А., ГОЛИЦЫН

AU - С.А., ГОЛИЦЫН

AU - Н.А., СЕЙФИ

N1 - Голицын, А. А. Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров / А. А. Голицын, С. А. Голицын, Н. А. Сейфи // Автометрия. – 2024. – Т. 60, № 5. – С. 50-59. – DOI 10.15372/AUT20240506.

PY - 2024

Y1 - 2024

N2 - Предложена методика вычисления координаты положения круглого объекта на изображении и его диаметра. В основе методики лежит вычисление значений взаимных корреляций фрагмента анализируемого изображения с несколькими характерными изображениями-эталонами, чтобы одновременно определить, и какой эталон, и какое его смещение относительно исследуемого фрагмента являются наиболее подходящими. Методика позволяет не только вычислить размер и координаты, но и определить фактическое отсутствие объекта в поле зрения. Показана её реализуемость и практическая применимость на примере алгоритма анализа мест сварки проволочных соединений на поверхности полупроводников с характерным шариком, которые используются при сборке интегральных микросхем. Алгоритм может быть использован в целях неразрушающего контроля на производстве полупроводниковых изделий до их корпусирования. Алгоритм позволяет не только измерить диаметр шарика и определить, находится ли его координата в допуске или нет, но также установить, имеется ли соединение вообще.

AB - Предложена методика вычисления координаты положения круглого объекта на изображении и его диаметра. В основе методики лежит вычисление значений взаимных корреляций фрагмента анализируемого изображения с несколькими характерными изображениями-эталонами, чтобы одновременно определить, и какой эталон, и какое его смещение относительно исследуемого фрагмента являются наиболее подходящими. Методика позволяет не только вычислить размер и координаты, но и определить фактическое отсутствие объекта в поле зрения. Показана её реализуемость и практическая применимость на примере алгоритма анализа мест сварки проволочных соединений на поверхности полупроводников с характерным шариком, которые используются при сборке интегральных микросхем. Алгоритм может быть использован в целях неразрушающего контроля на производстве полупроводниковых изделий до их корпусирования. Алгоритм позволяет не только измерить диаметр шарика и определить, находится ли его координата в допуске или нет, но также установить, имеется ли соединение вообще.

KW - Взаимная корреляция

KW - Обработка изоображений

KW - Диагностика полупроводниковых изделий

KW - CROSS CORRELATION

KW - IMAGE PROCESSING

KW - BALL-BONDING DIAGNOSTICS

UR - https://www.mendeley.com/catalogue/6fa1474f-7922-393e-a49d-c6bd1a747b05/

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=73218552

U2 - 10.15372/aut20240506

DO - 10.15372/aut20240506

M3 - статья

VL - 60

SP - 50

EP - 59

JO - Автометрия

JF - Автометрия

SN - 0320-7102

IS - 5

ER -

ID: 71988364