Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров. / А.А., ГОЛИЦЫН; С.А., ГОЛИЦЫН; Н.А., СЕЙФИ.
In: Автометрия, Vol. 60, No. 5, 2024, p. 50-59.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров
AU - А.А., ГОЛИЦЫН
AU - С.А., ГОЛИЦЫН
AU - Н.А., СЕЙФИ
N1 - Голицын, А. А. Применение метода взаимной корреляции изображений для расчёта координат положения объектов круглой формы и измерения их размеров / А. А. Голицын, С. А. Голицын, Н. А. Сейфи // Автометрия. – 2024. – Т. 60, № 5. – С. 50-59. – DOI 10.15372/AUT20240506.
PY - 2024
Y1 - 2024
N2 - Предложена методика вычисления координаты положения круглого объекта на изображении и его диаметра. В основе методики лежит вычисление значений взаимных корреляций фрагмента анализируемого изображения с несколькими характерными изображениями-эталонами, чтобы одновременно определить, и какой эталон, и какое его смещение относительно исследуемого фрагмента являются наиболее подходящими. Методика позволяет не только вычислить размер и координаты, но и определить фактическое отсутствие объекта в поле зрения. Показана её реализуемость и практическая применимость на примере алгоритма анализа мест сварки проволочных соединений на поверхности полупроводников с характерным шариком, которые используются при сборке интегральных микросхем. Алгоритм может быть использован в целях неразрушающего контроля на производстве полупроводниковых изделий до их корпусирования. Алгоритм позволяет не только измерить диаметр шарика и определить, находится ли его координата в допуске или нет, но также установить, имеется ли соединение вообще.
AB - Предложена методика вычисления координаты положения круглого объекта на изображении и его диаметра. В основе методики лежит вычисление значений взаимных корреляций фрагмента анализируемого изображения с несколькими характерными изображениями-эталонами, чтобы одновременно определить, и какой эталон, и какое его смещение относительно исследуемого фрагмента являются наиболее подходящими. Методика позволяет не только вычислить размер и координаты, но и определить фактическое отсутствие объекта в поле зрения. Показана её реализуемость и практическая применимость на примере алгоритма анализа мест сварки проволочных соединений на поверхности полупроводников с характерным шариком, которые используются при сборке интегральных микросхем. Алгоритм может быть использован в целях неразрушающего контроля на производстве полупроводниковых изделий до их корпусирования. Алгоритм позволяет не только измерить диаметр шарика и определить, находится ли его координата в допуске или нет, но также установить, имеется ли соединение вообще.
KW - Взаимная корреляция
KW - Обработка изоображений
KW - Диагностика полупроводниковых изделий
KW - CROSS CORRELATION
KW - IMAGE PROCESSING
KW - BALL-BONDING DIAGNOSTICS
UR - https://www.mendeley.com/catalogue/6fa1474f-7922-393e-a49d-c6bd1a747b05/
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=73218552
U2 - 10.15372/aut20240506
DO - 10.15372/aut20240506
M3 - статья
VL - 60
SP - 50
EP - 59
JO - Автометрия
JF - Автометрия
SN - 0320-7102
IS - 5
ER -
ID: 71988364