Standard

Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона. / Федоринин, В.Н. ; Кузнецов, Сергей Александрович; Гельфанд, А.В. и др.

сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023. 2023. стр. 124.

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Harvard

Федоринин, ВН, Кузнецов, СА, Гельфанд, АВ & А.Ю.Горшков, АЮ 2023, Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона. в сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023. стр. 124.

APA

Федоринин, В. Н., Кузнецов, С. А., Гельфанд, А. В., & А.Ю.Горшков, А. Ю. (2023). Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона. в сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023 (стр. 124)

Vancouver

Федоринин ВН, Кузнецов СА, Гельфанд АВ, А.Ю.Горшков АЮ. Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона. в сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023. 2023. стр. 124

Author

Федоринин, В.Н. ; Кузнецов, Сергей Александрович ; Гельфанд, А.В. и др. / Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона. сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023. 2023. стр. 124

BibTeX

@inproceedings{8304437e611e49c49b3f65124d2d0f22,
title = "Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона",
author = "В.Н. Федоринин and Кузнецов, {Сергей Александрович} and А.В. Гельфанд and А.Ю. А.Ю.Горшков",
year = "2023",
language = "русский",
pages = "124",
booktitle = "сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023",

}

RIS

TY - GEN

T1 - Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона

AU - Федоринин, В.Н.

AU - Кузнецов, Сергей Александрович

AU - Гельфанд, А.В.

AU - А.Ю.Горшков, А.Ю.

PY - 2023

Y1 - 2023

M3 - статья в сборнике материалов конференции

SP - 124

BT - сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023

ER -

ID: 59556848