Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review
Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона. / Федоринин, В.Н. ; Кузнецов, Сергей Александрович; Гельфанд, А.В. et al.
сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023. 2023. p. 124.Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review
}
TY - GEN
T1 - Определение диэлектрических постоянных и толщин теплозащитных керамических покрытий методом эллипсометрии миллиметрового диапазона
AU - Федоринин, В.Н.
AU - Кузнецов, Сергей Александрович
AU - Гельфанд, А.В.
AU - А.Ю.Горшков, А.Ю.
PY - 2023
Y1 - 2023
M3 - статья в сборнике материалов конференции
SP - 124
BT - сборник тезисов: Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) ФОТОНИКА 2023
ER -
ID: 59556848