Поиск
Главная
Результаты исследований
Сотрудники
Научная деятельность
Награды
Проекты
Подразделения
Оборудование
Пресса/СМИ
О портале
Эллипсометр миллиметрового диапазона спектра
Результаты исследований
:
Патенты/Свидетельства о регистрации
›
патент на изобретение
Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники
Обзор
Цитировать
Ссылки
https://new.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=RUPAT&DocNumber=2840127&TypeFile=html
Сергей Александрович Кузнецов
(автор)
Виктор Николаевич Федоринин
(автор)
Александр Витальевич Гельфанд
(автор)
Юрий Леонидович Кравченко
(автор)
Язык оригинала
русский
Номер патента
2840127
Дата приоритета
31.10.2024
Дата подачи заявки
31.10.2024
Состояние
Опубликовано -
19 мая 2025
ГРНТИ
29.35.33 Миллиметровые и субмиллиметровые волны
59.45.37 Приборы для неразрушающего контроля изделий и материалов оптическим методом
81.09.81 Испытание материалов. Дефектоскопия
Области исследований
ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ, ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ФИЛЬТР, ТЕРАГЕРЦОВОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, МИЛЛИМЕТРОВЫЕ ВОЛНЫ, ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОСТОЯННЫЕ, МЕТАПОВЕРХНОСТЬ, МИКРОДИСПЕРСИОННЫЕ СРЕДЫ, ПИРОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПРИЕМНИКИ
ID: 60761800