1 - 1 из 1Размер страницы: 50
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Контроль формирования слоев графена на подложках 6H-SiC(0001) методом in situ дифракции быстрых электронов на отражение

    Дураков, Д. Е., Петров, А. С., Рогило, Д. И., Макеева, А. А., Насимов, Д. А., Никифоров, Д. Ф., Курусь, Н. Н., Милёхин, А. Г., Щеглов, Д. В. & Латышев, А. В., 2025, в: Физика и техника полупроводников. 59, 2, стр. 102-108

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 60475907