Towards the Impact of Pruning Criteria and Tuning Approach on Model Interpretability and Quality

Shcherbin, A., 2024, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1800-1805 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Gaussian Based Active Learning Algorithm for Image Classification Problem

Shcherbin, A. & Yakhyaeva, G., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 542-546 5 стр. 9507644. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование