1. Critical conditions for SiGe island formation during Ge deposition on Si(100) at high temperatures

    Shklyaev, A. A. & Budazhapova, A. E., 1 янв. 2017, в: Materials Science in Semiconductor Processing. 57, стр. 18-23 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Coatings consisting of Ge particles on nonwettable Si oxide surfaces and their resonance reflection spectra

    Shklyaev, A. A., 1 мар. 2023, в: Thin Solid Films. 768, 139720.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Broadband Antireflection Coatings Made of Resonant Submicron- And Micron-Sized SiGe Particles Grown on Si Substrates

    Shklyaev, A. A. & Tsarev, A. V., июн. 2021, в: IEEE Photonics Journal. 13, 3, 9435026.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Broadband Antireflection Coatings Composed of Subwavelength-Sized SiGe Particles

    Utkin, D. E., Tsarev, A. V., Utkin, E. N., Latyshev, A. V. & Shklyaev, A. A., 1 сент. 2021, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 57, 5, стр. 494-504 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Atomic structure of high Miller index Si(47 35 7) surface

    Zhachuk, R. A., Dolbak, A. E. & Shklyaev, A. A., мар. 2020, в: Surface Science. 693, 5 стр., 121549.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Array of dielectric Mie particles with optical surface resonances as a promising coating for thin-film photoelectronic device applications

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Tsarev, A. V. & Latyshev, A. V., мар. 2025, в: Vacuum. 233, 113976.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Antireflection microstructures fabricated on the surface of a LiGaSe 2 nonlinear crystal

    Teslenko, A. A., Bushunov, A. A., Isaenko, L. I., Shklyaev, A., Goloshumova, A., Lobanov, S. I., Lazarev, V. A. & Tarabrin, M. K., 1 мар. 2023, в: Optics Letters. 48, 5, стр. 1196-1199 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. 1.534 µm Er electroluminescence in the RF magnetron deposited In2O3 : Er films on a Si substrate

    Feklistov, K. V., Lemzyakov, A. G., Abramkin, D. S., Svit, K. A., Pugachev, A. M., Volodin, V. A., Marin, D. V., Spesivsev, E. V., Azarov, I. A., Safronov, L. N., Kochubey, S. A., Ershov, K. S., Kapishnikov, A. V., Shmakov, A. N., Shklyaev, A. A. & Zhivodkov, Y. A., 30 июн. 2026, в: Modern Electronic Materials. 12, 2, стр. 95-102 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 Далее

ID: 3455017