1 - 10 из 11Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Development of Detectors for Station 1–3 “Fast Processes” of the SKIF Center for Collective Use

    Shekhtman, L. I., Aulchenko, V. M., Burdin, V. E., Glushak, A. A., Kornievsky, M. A., Kudryavtsev, V. N., Titov, V. M., Tolbanov, O. P., Tyazhev, A. V., Zarubin, A. N. & Zhulanov, V. V., 17 янв. 2025, в: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 88, Suppl 1, стр. S105-S115 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Fast Synchrotron Radiation beam Position and Intensity Monitor for the Experiments to Study Fast-Flowing Processes

    Aulchenko, V. M., Glushak, A. A., Kornievsky, M. A., Shekhtman, L. I., Tolbanov, O. P., Tyazhev, A. V. & Zarubin, A. N., 17 янв. 2025, в: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 88, Suppl 1, стр. S116-S121 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. 2024

  5. Specialized Integrated Circuit for Coordinate Counting Detectors

    Glushak, A. A., Aulchenko, V. M., Zhulanov, V. V. & Shekhtman, L. I., 30 июн. 2024, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 60, 1, стр. 99-105 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Control Electronics for One-Coordinate X-Ray Detectors

    Yartseva, M. A., Glushak, A. A., Shekhtman, L. I., Titov, V. M., Petrenko, P. V. & Zhulanov, V. V., 2024, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 910-913 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  7. Jet Density Dynamics During Shock Impact on Metal Plate Joints

    Khalemenchuk, V. P., Glushak, A. A., Rubtsov, I. A., Ten, K. A., Pruuel, E. R. & Kashkarov, A. O., 2024, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 950-953 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  8. 2023

  9. Silicon Microstrip Detector for Studying Fast Processes on a Synchrotron Beam

    Aulchenko, V. M., Glushak, A. A., Zhulanov, V. V., Zhuravlev, A. N., Kiselev, V. A., Kudryavtsev, V. N., Piminov, P. A., Titov, V. M. & Shekhtman, L. I., дек. 2023, в: Journal of Surface Investigation. 17, 6, стр. 1356-1363 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Development of a One-Dimensional Detector for Diffraction Experiments at the Synchrotron Radiation Beam

    Aulchenko, V. M., Glushak, A. A., Zhulanov, V. V., Titov, V. M. & Shekhtman, L. I., авг. 2023, в: Journal of Surface Investigation. 17, 4, стр. 892-897 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Development of One-Coordinate Detector for Diffraction Experiments at a SynchrotronRadiation Beam

    Aulchenko, V. M., Glushak, A. A., Zhulanov, V. V., Shekhtman, L. I. & Titov, V. M., 2023, 24th IEEE International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2023; Novosibirsk; Russian Federation; 29 June 2023 до 3 July 2023. IEEE Computer Society, 4 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  12. Development of Specialized Integrated Circuits for Coordinate X-Ray Detectors

    Glushak, A. A., Aulchenko, V. M., Shekhtman, L. I. & Zhulanov, V. V., 2023, Proceedings of the 2023 IEEE 16th International Scientific and Technical Conference Actual Problems of Electronic Instrument Engineering, APEIE 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), стр. 50-53 4 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  13. Single-Bunch Monitor of the Position and Intensity of the SR Beam for Station "Fast Processes" of the Synchrotron Radiation Facility "SKIF"

    Kornievskiy, M. A., Aulchenko, V. M., Glushak, A. A. & Shekhtman, L. I., 2023, Proceedings of the 2023 IEEE 16th International Scientific and Technical Conference Actual Problems of Electronic Instrument Engineering, APEIE 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), стр. 900-905 6 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Назад 1 2 Далее

ID: 34347319