Electrical Transport Properties of Vanadium-Doped Bi₂Te_2.4Se_0.6

Riha, C., Düzel, B., Graser, K., Chiatti, O., Golias, E., Sánchez-Barriga, J., Rader, O., Tereshchenko, O. E. & Fischer, S. F., янв. 2021, в: Physica Status Solidi (B) Basic Research. 258, 1, 6 стр., 2000088.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electrochemically exfoliated thin Bi₂Se₃ films and van der Waals heterostructures Bi₂Se₃/graphene

Antonova, I. V., Nebogatikova, N. A., Kokh, K. A., Kustov, D. A., Soots, R. A., Golyashov, V. A. & Tereshchenko, O. E., 7 янв. 2020, в: Nanotechnology. 31, 12, 7 стр., 125602.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electromechanical coupling in suspended nanomechanical resonators with a two-dimensional electron gas

Shevyrin, A. A., Pogosov, A. G., Bakarov, A. K. & Shklyaev, A. A., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012043.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Electromigration effect on the surface morphology during the Ge deposition on Si(1 1 1) at high temperatures

Shklyaev, A. A. & Latyshev, A. V., 28 янв. 2019, в: Applied Surface Science. 465, стр. 10-14 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electromigration Effect on Vacancy Islands Nucleation on Si(100) Surface during Sublimation

Sitnikov, S. V., Rodyakina, E. E. & Latyshev, A. V., 1 июн. 2019, в: Semiconductors. 53, 6, стр. 795-799 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electron and hole bipolar injection in magnesium oxide films

Perevalov, T. V., Islamov, D. R., Zalyalov, T. M., Gismatulin, A. A., Golyashov, V. A., Tereshchenko, O. E., Gorshkov, D. V. & Gritsenko, V. A., 6 февр. 2024, в: Applied Physics Letters. 124, 4, 042903.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electron-Beam Radiation Effects in Multilayer Structures Grown with the Periodical Deposition of Si and CaF2 on Si(111)

Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A., Stepina, N. P., Zinovieva, A. F. & Zinovyev, V. A., мая 2023, в: Materials Today: Proceedings. 14, 1, 68.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Electron emission from Cs/GaAs and GaAs(Cs, О) with positive and negative electron affinity

Zhuravlev, A. G., Khoroshilov, V. S. & Alperovich, V. L., 1 мая 2017, в: JETP Letters. 105, 10, стр. 686-690 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electron emission from GaAs(Cs,O): Transition from negative to positive effective affinity

Zhuravlev, A. G., Khoroshilov, V. S. & Alperovich, V. L., 31 июл. 2019, в: Applied Surface Science. 483, стр. 895-900 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electronic and spin structure of the wide-band-gap topological insulator: Nearly stoichiometric Bi2 Te2 S

Annese, E., Okuda, T., Schwier, E. F., Iwasawa, H., Shimada, K., Natamane, M., Taniguchi, M., Rusinov, I. P., Eremeev, S. V., Kokh, K. A., Golyashov, V. A., Tereshchenko, O. E., Chulkov, E. V. & Kimura, A., 10 мая 2018, в: Physical Review B. 97, 20, 6 стр., 205113.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование